本申请涉及激光检测领域，具体而言，涉及一种绝缘材料的检测方法、检测装置、计算机可读存储介质和电子设备。
背景技术：
1、在绝缘材料检测中，激光成像技术可以用于识别绝缘材料的缺陷、损伤或污染等问题。例如，通过激光束扫描绝缘材料表面，可以检测表面的不平整度、裂纹或异物等。同时，激光成像还可以用于检测绝缘材料内部的缺陷，如气泡、夹杂物等。
2、在实际应用中，需要考虑激光的波长、功率、扫描速度等参数对检测结果的影响，以及绝缘材料的种类、厚度、表面状态等因素对激光成像效果的影响。目前对于绝缘材料吸收激光光谱的特征检测比较缺乏，导致激光检测方法难以开展，因此，为了充分发挥激光成像技术在绝缘材料检测中的优势，需要进一步研究和优化相关技术和方法，提高检测的可靠性。充分提取检测信号中包含的特征，能够对绝缘材料的性能做出准确的评价。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种绝缘材料的检测方法、检测装置、计算机可读存储介质和电子设备，以至少解决现有技术中缺少对于绝缘材料与激光光谱的特征之间的关系认定的问题。
2、为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种绝缘材料的检测方法，包括：向绝缘材料发射激光，所述绝缘材料将所述激光进行反射；获取所述反射激光的光谱图像，并根据所述光谱图像的信息，得到多个特征参数；根据多个所述特征参数，确定所述绝缘材料的特征峰；根据所述特征参数和所述特征峰，确定所述绝缘材料的特征峰和所述光谱图像的特征之间的预设关系，完成对所述绝缘材料的检测。
3、可选地，获取所述反射激光的光谱图像，包括：获取所述反射激光的光谱数据，并建构颜色空间模型；根据所述光谱数据和所述颜色空间模型，将所述光谱数据转化为彩色的光谱图像。
4、可选地，根据所述光谱图像的信息，得到多个特征参数，包括：获取所述光谱图像的多个像素点，每个所述像素点具有对应的灰度级数；根据多个相邻的所述像素点的所述灰度级数，得到多个相邻的所述像素点的联合概率密度；根据所述联合概率密度，得到多个所述特征参数。
5、可选地，根据多个相邻的所述像素点的所述灰度级数，得到多个相邻的所述像素点的联合概率密度，包括：获取所述联合概率密度函数：0<x≤l，0<y≤l，其中，(x，y)为图像中的像素坐标；p(x，y)是x、y同时出现的离散概率密度；a、b为光谱图像的灰度级数；l表示所述光谱图像的最大灰度级数；k表示从该像素点向其他方向移动k个像素点；根据所述联合概率函数，得到多个相邻的所述像素点的联合概率密度。
6、可选地，所述检测方法，还包括：根据多个所述联合概率密度，得到所述光谱图像的灰度矩阵。
7、可选地，所述特征参数包括以下至少之一：二阶中心矩、图像对比度、光谱图像相关性、均方根、逆均方根、光谱图像近圆分布度、衰减因数、光谱图像焓变和光谱图像信息熵。
8、可选地，所述信号处理器根据所述第一光谱信息和所述第二光谱信息，确定第三光谱信息，包括：获取第一公式：其中，r(m)表示具有所述第一光谱信息的第一光谱和具有所述第二光谱信息的第二光谱之间的平移距离，g1为反射激光的修正幅值，g2为折射激光的修正幅值；根据所述第一公式、所述第一光谱信息和所述第二光谱信息，确定所述第三光谱信息，所述第三光谱信息包括具有所述第一光谱信息的第一光谱和具有所述第二光谱信息的第二光谱之间的平移距离，所述平移距离至少用于表征所述绝缘材料的老化程度。
9、根据本申请的另一方面，提供了一种绝缘材料的检测装置，包括：控制模块，用于向绝缘材料发射激光，所述绝缘材料将所述激光进行反射；获取模块，用于获取所述反射激光的光谱图像，并根据所述光谱图像的信息，得到多个特征参数；第一确定模块，用于根据多个所述特征参数，确定所述绝缘材料的特征峰；第二确定模块，用于根据所述特征参数和所述特征峰，确定所述绝缘材料的特征峰和所述光谱图像的特征之间的预设关系，完成对所述绝缘材料的检测。
10、根据本申请的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行任意一种所述的绝缘材料的检测方法。
11、根据本申请的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现所述的绝缘材料的检测方法。
12、根据本申请的另一方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行任意一种所述的绝缘材料的检测方法。
13、应用本申请的技术方案，上述绝缘材料的检测方法，首先向绝缘材料发射激光光束，绝缘材料再将所示激光进行反射，反射出去的激光为反射激光，获取上述反射激光并根据反射激光获取反射激光的光谱图像，根据光谱图像的信息得到激光光谱的特征参数，再根据上述特征参数确定法绝缘材料的特征峰，将特征参数和上述特征峰进行对应，得到二者之间的预设关系，解决了现有技术中缺少对于绝缘材料与激光光谱的特征之间的关系认定的问题。
1.一种绝缘材料的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，获取所述反射激光的光谱图像，包括：
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述光谱图像的信息，得到多个特征参数，包括：
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，根据多个相邻的所述像素点的所述灰度级数，得到多个相邻的所述像素点的联合概率密度，包括：
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述特征参数包括以下至少之一：二阶中心矩、图像对比度、光谱图像相关性、均方根、逆均方根、光谱图像近圆分布度、衰减因数、光谱图像焓变和光谱图像信息熵。
7.一种绝缘材料的检测装置，其特征在于，包括：
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行权利要求1至6中任一项所述的绝缘材料的检测方法。
9.一种计算机程序产品，包括计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被处理器执行时实现权利要求1至6中任意一项所述的绝缘材料的检测方法。
10.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行权利要求1至6中任一项所述的绝缘材料的检测方法。
