一种芯片验证方法、系统及装置与流程

1.本发明涉及芯片验证技术领域，尤其是一种芯片验证方法、系统及装置。


背景技术：

2.芯片设计过程中，传统的验证方法是对待测设计添加特定的激励，在仿真完成后，通过自动比对或人工方式查看结果文件和波形，确定仿真结果与预期结果是否一致。随着电路的集成度和复杂度的提升，传统验证方法虽然平台搭建简单，但后续仿真实施过程中会耗费大量时间，因此迫切需要掌握先进的验证方法，以提高验证效率。
3.当前在芯片验证过程中，激励生成器根据特定的约束产生测试激励，通过传统的验证环境或uvm平台搭建的验证环境将生成的激励施加给待验设计，仿真完成后，提取仿真结果并进行自动比对或通过手工方式查看结果文件和波形，确定待验设计的仿真结果与预期是否一致。
4.根据第一轮仿真结果和覆盖率信息修改激励生成器中的约束文件，重新生成激励文件，对设计进行回归测试，如此循环往复，直到达到验证要求为止。随着芯片集成度不断提高，传统验证方法会花费大量时间。


技术实现要素：

5.本发明提供了一种芯片验证方法、系统及装置，用于解决现有芯片验证效率低的问题。
6.为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：
7.本发明第一方面提供了一种芯片验证方法，所述方法包括以下步骤：
8.采用随机激励对待验芯片进行功能测试；
9.在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。
10.进一步地，所述采用随机激励对待验芯片进行功能测试之前还包括步骤：
11.采用代码生成器生成uvm验证平台。
12.进一步地，所述采用代码生成器生成uvm验证平台的具体过程为：
13.生成验证平台所需的验证组件；
14.根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。
15.进一步地，所述验证组件包括env、agent、sequence、sequencer、driver、monitor、scoreboard和interface。
16.进一步地，所述功能测试包括对先入先出队列fifo的测试，具体测试内容有fifo深度测试、fifo位宽测试、fifo空满判断测试、fifo写满后继续写功能测试、fifo读空后继续读测试以及fifo复位状态测试。
17.进一步地，所述收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励
测试具体为：
18.若所述覆盖率显示除了fifo写满后继续写数功能外，其余功能均已验证完毕，则定向测试激励生成器生成fifo写满后继续写数激励，对该功能进行针对性验证。
19.本发明第二方面提供了一种芯片验证系统，所述系统包括：
20.随机验证单元，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；
21.定向验证单元，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。
22.进一步地，所述系统还包括：
23.环境配置单元，采用代码生成器生成uvm验证平台，具体为生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。
24.本发明第三方面提供了一种所述芯片验证装置，所述装置包括：
25.随机测试激励生成器，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；
26.定向测试激励生成器，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。
27.进一步地，所述装置还包括代码生成器，所述代码生成器生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。
28.本发明第二方面的所述验证系统及第三方面所述验证装置均能够实现第一方面及第一方面的各实现方式中的方法，并取得相同的效果。
29.发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
30.1、本发明在芯片验证过程中，采用随机激励与定向激励相结合的方式进行芯片功能的验证测试，可以达到加速验证收敛，加快验证进度的目的，从而提高验证效率。
31.2、本发明采用代码生成器生成标准验证平台，再根据待验设计相关参数，生成完整验证平台，在项目测试和项目迭代过程中，能够大量减少验证工程师的工作量。同时帮助验证新人快速理解uvm平台验证机理，把主要精力放在验证工作中，进一步提高验证效率。
附图说明
32.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
33.图1是本发明所述方法实施例的流程示意图；
34.图2是本发明所述系统实施例的结构示意图；
35.图3是本发明所述装置实施例的结构示意图。
具体实施方式
36.为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结
构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
37.如图1所示，本发明实施例提供了一种芯片验证方法，所述方法包括以下步骤：
38.s1,采用随机激励对待验芯片进行功能测试；
39.s2,在覆盖率达到预设程度后收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。
40.步骤s1中，在项目验证初期，使用随机测试生成器生成测试激励对待验设计进行测试。
41.步骤s2中，当测试覆盖率达到一定程度，启用定向测试激励生成器生成测试激励对待验设计进行测试，有针对性的生成测试激励，这种方法可以加速验证收敛速度。
42.比如对待验芯片dut中的先入先出队列fifo进行测试，大致需要测以下几点；
43.测试fifo深度；
44.测试fifo位宽；
45.测试fifo空满判断功能；
46.测试fifo写满后继续写数；
47.测试fifo读空后继续读数；
48.测试fifo复位状态。
49.以上如果覆盖率显示除了fifo写满后继续写数功能外，其余功能均已验证完毕，那么定向测试激励生成器生成fifo写满后继续写数激励，对该功能进行验证。
50.本发明所述方法实施例的其一实现方式中，所述采用随机激励对待验芯片进行功能测试之前还包括步骤：
51.采用代码生成器生成uvm验证平台。
52.所述采用代码生成器生成uvm验证平台的具体过程为：
53.生成验证平台所需的验证组件；
54.根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。
55.所述验证组件包括env、agent、sequence、sequencer、driver、monitor、scoreboard和interface。
56.验证策略对于不同的验证平台及验证场景，均需要基于当前待验芯片通过自定义代码进行对应设置。
57.如图2所示，本发明实施例还提供了一种芯片验证系统，所述系统包括环境配置单元1、随机验证单元2和定向验证单元3。
58.环境配置单元1采用代码生成器生成uvm验证平台，具体为生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。
59.随机验证单元2采用随机激励对待验芯片进行功能测试。
60.定向验证单元3用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向
激励测试。
61.如图3所示，本发明实施例还提供了一种所述芯片验证装置，所述装置包括：随机测试激励生成器、定向测试激励生成器和代码生成器。
62.所述代码生成器生成标准验证平台，生成验证平台所需的验证组件，包括env、agent、sequence、sequencer、driver、monitor、scoreboard、interface等；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。
63.随机测试激励生成器采用随机激励对待验芯片进行功能测试。
64.定向测试激励生成器，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。
65.上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

技术特征：
1.一种芯片验证方法，其特征是，所述方法包括以下步骤：采用随机激励对待验芯片进行功能测试；在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。2.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征是，所述采用随机激励对待验芯片进行功能测试之前还包括步骤：采用代码生成器生成uvm验证平台。3.根据权利要求2所述芯片验证方法，其特征是，所述采用代码生成器生成uvm验证平台的具体过程为：生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。4.根据权利要求3所述芯片验证方法，其特征是，所述验证组件包括env、agent、sequence、sequencer、driver、monitor、scoreboard和interface。5.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征是，所述功能测试包括对先入先出队列fifo的测试，具体测试内容有fifo深度测试、fifo位宽测试、fifo空满判断测试、fifo写满后继续写功能测试、fifo读空后继续读测试以及fifo复位状态测试。6.根据权利要求5所述芯片验证方法，其特征是，所述收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试具体为：若所述覆盖率显示除了fifo写满后继续写数功能外，其余功能均已验证完毕，则定向测试激励生成器生成fifo写满后继续写数激励，对该功能进行针对性验证。7.一种芯片验证系统，其特征是，所述系统包括：随机验证单元，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；定向验证单元，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。8.根据权利要求7所述芯片验证系统，其特征是，所述系统还包括：环境配置单元，采用代码生成器生成uvm验证平台，具体为生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。9.一种芯片验证装置，其特征是，所述装置包括：随机测试激励生成器，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；定向测试激励生成器，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。10.根据权利要求9所述芯片验证装置，其特征是，所述装置还包括代码生成器，所述代码生成器生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的uvm验证平台。

技术总结
本发明提供了一种芯片验证方法、系统及装置，所述方法包括采用随机激励对待验芯片进行功能测试；在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。本发明在芯片验证过程中，采用随机激励与定向激励相结合的方式进行芯片功能的验证测试，可以达到加速验证收敛，加快验证进度的目的，从而提高验证效率。采用代码生成器生成标准验证平台，再根据待验设计相关参数，生成完整验证平台，在项目测试和项目迭代过程中，能够大量减少验证工程师的工作量。同时帮助验证新人快速理解UVM平台验证机理，把主要精力放在验证工作中，进一步提高验证效率。率。率。


技术研发人员：丁敏刚
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：2022.02.11
技术公布日：2022/5/25