自动化电路、MCU自动化设备

自动化电路、mcu自动化设备
技术领域
1.本技术涉及电压测试技术领域，特别涉及一种自动化电路、mcu自动化设备。


背景技术：

2.现有技术中，通常采用人工的方式对微控制单元(microcontroller unit，mcu)的阈值电压进行测试，此测试方式需要人工调节电源设备传输给待测mcu的电压，然后通过观察待测mcu的变化而记录阈值电压，最后将记录的阈值电压进行人工核对及推算，并根据推算结果对待测mcu进行操作。然而，人工测试的方式，操作繁琐、效率低、人力成本高。


技术实现要素：

3.鉴于此，本技术提出一种自动化电路、mcu自动化设备，能够自动测试待测模块的阈值电压。
4.本技术提供一种自动化电路，包括：用于输出调节信号的控制模块、以及用于输出供电电压的可编程电源；其中，
5.所述控制模块的输出端与所述可编程电源的输入端连接，将所述控制模块生成的调节信号输出至所述可编程电源；所述调节信号用于调节所述可编程电源输出的供电电压；
6.所述可编程电源的输出端与待测模块的输入端连接，用于向所述待测模块输出供电电压，所述供电电压由所述可编程电源根据所述调节信号生成；
7.所述控制模块的输入端与所述待测模块的输出端连接，用于接收所述待测模块在所述供电电压为阈值电压时生成的中断信号；
8.所述控制模块还用于当所述待测模块产生中断信号时，将所述可编程电源的当前供电电压进行保存。
9.在其中一个实施例中，所述调节信号包括：初始电压、步进电压及调节方向。
10.在其中一个实施例中，所述调节方向为递增方向，以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，所述可编程电源用于将所述初始电压与所述调节电压进行相加得到所述供电电压。
11.在其中一个实施例中，所述调节方向为递减方向，以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，所述可编程电源用于将所述初始电压与所述调节电压进行相减得到所述供电电压。
12.在其中一个实施例中，所述控制模块根据实际阈值电压的估算值计算所述初始电压。
13.在其中一个实施例中，所述调节方向为递增方向，所述控制模块计算所述初始电压的计算方式为：
14.vdd＝1.90f+pvd_level*0.14f；其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。
15.在其中一个实施例中，所述调节方向为递减方向，所述控制模块计算所述初始电压的计算方式为：
16.vdd＝2.0f+pvd_level*0.16f；其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。
17.在其中一个实施例中，所述初始电压为1.9v至3.3v。
18.在其中一个实施例中，当所述供电电压从所述初始电压变化至截止电压时，所述待测模块均没有生成中断信号，所述控制模块重新发送调节信号至所述可编程电源，并进行重复测试。
19.本技术提供一种mcu自动化设备，包括第一方面任一项所述的自动化电路，其中，所述待测模块是mcu。
20.本技术提供一种mcu自动化设备，包括可编程电源、控制模块、待测mcu及主控设备,所述主控设备与所述控制模块连接,所述可编程电源分别与所述控制模块及所述待测mcu连接,所述控制模块还与所述待测mcu连接；
21.所述主控设备用于生成调节信号并将所述调节信号发送至所述控制模块；
22.所述控制模块用于将所述调节信号发送至所述可编程电源；
23.所述待测mcu用于接收所述供电电压，并判断所述供电电压是否为阈值电压；当所述供电电压为所述阈值电压时，所述待测mcu生成中断信号；
24.所述控制模块用于检测到所述待测mcu产生中断信号时，所述控制块将所述可编程电源的当前供电电压进行保存；
25.所述控制模块还用于将所述当前供电电压发送至所述主控设备。
26.本技术提供一种可编程电源，所述可编程电源用于分别与控制模块及待测模块连接；所述可编程电源包括：用于接收信号的信号接收单元、以及用于生成供电电压的电压生成单元，其中，
27.所述信号接收单元的输入端用于连接所述控制模块的输出端，接收所述控制模块发送的调节信号；所述调节信号用于调节所述电压生成单元生成的供电电压；
28.所述信号接收单元的输出端连接所述电压生成单元的输入端；所述信号接收单元的输出端用于将所述信号接收单元接收到的所述调节信号输出至所述电压生成单元；
29.所述电压生成单元的输出端用于连接所述待测模块的输入端，将所述电压生成单元根据所述调节信号生成的供电电压传输至所述待测模块。
30.在其中一个实施例中，所述电压生成单元包括：用于计算供电电压的计算子单元、以及用于生成供电电压的电压生成子单元；其中，
31.所述计算子单元的输入端连接所述信号接收单元的输出端，接收所述信号接收单元输出的所述调节信号；
32.所述计算子单元的输出端连接所述电压生成子单元的输入端；所述计算子单元的输出端用于将所述计算子单元根据所述调节信号计算得到的供电电压输出至所述电压生成子单元；
33.所述电压生成子单元的输出端用于连接所述待测模块的输入端，将所述电压生成子单元生成的供电电压输出至所述待测模块。
34.在其中一个实施例中，所述调节信号包括：初始电压、步进电压及调节方向。
35.在其中一个实施例中，所述调节方向为递增方向，所述计算子单元用于以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，将所述初始电压与所述调节电压进行相加得到所述供电电压。
36.在其中一个实施例中，所述调节方向为递减方向，所述计算子单元用于以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，将所述初始电压与所述调节电压进行相减得到所述供电电压。
37.在其中一个实施例中，所述初始电压的取值范围为1.9v-3.3v。
38.本技术提供一种测试电路，包括：上述任一项所述的可编程电源；所述测试电路还包括用于输出调节信号的控制模块及待测模块；其中，
39.所述控制模块的输出端用于输出所述调节信号；
40.所述待测模块用于接收所述供电电压，并判断所述供电电压是否为阈值电压；当所述供电电压为所述阈值电压时，所述待测模块生成中断信号；
41.所述控制模块用于当所述控制模块检测到所述待测模块产生中断信号时，所述控制模块将所述可编程电源的当前供电电压进行保存。
42.在其中一个实施例中，所述待测模块是mcu。
43.在其中一个实施例中，当所述供电电压从所述初始电压与所述步进电压的和变化至截止电压时，所述待测模块均没有生成中断信号，所述控制模块重新发送调节信号至所述可编程电源，并进行重复测试。
44.本技术提供一种测试装置，包括上述任一项所述的可编程电源、控制模块、待测模块及主控设备，所述主控设备与所述控制模块连接，所述可编程电源分别与所述控制模块及所述待测模块连接，所述控制模块还与所述待测模块连接；
45.所述主控设备用于生成调节信号并将所述调节信号发送至所述控制模块；
46.所述控制模块用于将所述调节信号发送至所述可编程电源；
47.所述待测模块用于接收所述供电电压，并判断所述供电电压是否为阈值电压；
48.当所述供电电压为所述阈值电压时，所述待测模块生成中断信号，当所述控制模块检测到所述待测模块产生中断信号时，所述控制模块将所述可编程电源的当前供电电压进行保存；
49.所述控制模块还用于将所述当前供电电压发送至所述主控设备。
50.本技术提供一种可编程电源，所述可编程电源用于分别与控制模块及待测模块连接；
51.所述可编程电源用于接收所述控制模块发送的调节信号，所述调节信号包括初始电压、步进电压及调节方向；
52.所述可编程电源基于所述初始电压、所述步进电压及所述调节方向调节其自身的供电电压，并将所述供电电压传输至所述待测模块。
53.在其中一个实施例中，所述调节方向为递增方向，以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，所述可编程电源用于将所述初始电压与所述调节电压进行相加得到所述供电电压。
54.在其中一个实施例中，所述调节方向为递减方向，以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，所述可编程电源用于将所述初始电压与所述调节电压进行相减
得到所述供电电压。
55.在其中一个实施例中，所述调节方向为递增方向，所述初始电压的计算方式为：
56.vdd＝1.90f+pvd_level*0.14f；其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。
57.在其中一个实施例中，所述调节方向为递减方向，所述初始电压的计算方式为：
58.vdd＝2.0f+pvd_level*0.16f；其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。
59.在其中一个实施例中，所述初始电压为1.9v-3.3v。
60.本技术还提供一种测试电路，包括上述任一实施例所述的可编程电源。
61.在其中一个实施例中，还包括控制模块及待测模块，所述可编程电源分别与所述控制模块及所述待测模块连接，所述控制模块还与所述待测模块连接；
62.所述控制模块用于将所述调节信号发送至所述可编程电源；
63.所述待测模块用于接收所述供电电压，并判断所述供电电压是否为阈值电压；
64.当所述供电电压为所述阈值电压时，所述待测模块生成中断信号，当所述控制模块检测到所述待测模块产生中断信号时，所述控制模块将所述可编程电源的当前供电电压进行保存。
65.在其中一个实施例中，当所述供电电压从所述初始电压与所述步进电压的和变化至截止电压时，所述待测模块均没有生成中断信号，所述控制模块重新发送调节信号至所述可编程电源，并进行重复测试。
66.本技术还提供一种测试装置，包括上述任一实施例所述的可编程电源、控制模块、待测模块及主控设备，所述主控设备与所述控制模块连接，所述可编程电源分别与所述控制模块及所述待测模块连接，所述控制模块还与所述待测模块连接；
67.所述主控设备用于生成调节信号并将所述调节信号发送至所述控制模块；
68.所述控制模块用于将所述调节信号发送至所述可编程电源；
69.所述待测模块用于接收所述供电电压，并判断所述供电电压是否为阈值电压；
70.当所述供电电压为所述阈值电压时，所述待测模块生成中断信号，当所述控制模块检测到所述待测模块产生中断信号时，所述控制模块将所述可编程电源的当前供电电压进行保存；
71.所述控制模块还用于将所述当前供电电压发送至所述主控设备。
72.本技术的技术方案至少具有以下有益的效果：
73.通过可编程电源调节待测模块的供电电压，当供电电压为阈值电压时，待测模块生成中断信号，控制模块检测到待测模块产生中断信号时，将可编程电源的当前供电电压进行保存，并将该当前供电电压记录为待测模块的阈值电压，从而实现了对待测模块的阈值电压的自动化检测，提高了测试效率和测试精度。
附图说明
74.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
75.图1为本技术一实施例提供的测试电路的结构示意图；
76.图2为本技术一实施例提供的测试装置的结构示意图；
77.图3为本技术上升沿测试时供电电压与初始电压、调节次数之间的关系示例图；
78.图4为本技术下降沿测试时供电电压与初始电压、调节次数之间的关系示例图。
具体实施方式
79.为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施方式。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本技术的公开内容理解的更加透彻全面。
80.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。
81.请参考图1，本技术实施例提供一种测试电路，该测试电路也可以称为自动化电路。该测试电路包括可编程电源10、控制模块20及待测模块30。可编程电源10分别与控制模块20及待测模块30连接，控制模块20还与待测模块30连接。
82.控制模块20用于将调节信号发送至可编程电源10。可编程电源10用于接收控制模块20发送的调节信号。其中，调节信号包括初始电压、步进电压及调节方向。也就是说，可编程电源10基于初始电压、步进电压及调节方向调节其自身的供电电压，并将供电电压传输至待测模块30。可以理解的，调节信号可以由控制模块20生成。待测模块30用于接收供电电压，并判断供电电压是否为阈值电压。当供电电压为阈值电压时，待测模块30生成中断信号，当控制模块20检测到所述待测模块30产生中断信号时，控制模块20将可编程电源10的当前供电电压进行保存。控制模块20与待测模块30相互通信。
83.该测试电路在上电后，控制模块20分别与可编程电源10及待测模块30进行握手。控制模块20可以根据参考电压计算初始电压，优选的，控制模块20将初始电压设置成接近于参考电压的值，从而可以减少可编程电源10对供电电压的调节次数，提高测试效率及提高设备的寿命。参考电压为实际阈值电压的估算值。控制模块20根据电压调节精度需求设置步进电压。调节方向包括递增方向及递减方向。由于可编程电源10的供电电压由初始电压与步进电压的和逐渐增大，以及由初始电压与步进电压的差逐渐减小，待测模块30检测到的阈值电压不一致，因此，在对待测模块30的阈值电压进行测试时，需要对可编程电源10的供电电压由初始电压与步进电压的和向递增方向调节，测试调节过程中的阈值电压，即上升沿测试，以及对可编程电源10的供电电压由初始电压与步进电压的差向递减方向调节，测试调节过程中的阈值电压，即下降沿测试。
84.控制模块20以待测模块30产生中断信号时，可编程电源10输出的当前供电电压为阈值电压，并将该阈值电压存储于flash存储器中。
85.上述的控制模块20和待测模块30可以是mcu。
86.当需要对待测模块30进行上升沿测试时，调节方向为递增方向，以步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，可编程电源10用于将初始电压与调节电压进行相加得到供电电压。例如图3所示，以初始电压为1.9v，步进电压为0.1v为例，供电电压与初始电
压、调节次数之间的关系如图3所示。
87.示例的，当待测模块30的阈值电压大约为2.5v时，可以将上升沿测试的初始电压设置为2.3v，步进电压设置为0.01v，控制模块20将初始电压2.3v，步进电压0.01v以及递增方向发送给可编程电源10，可编程电源10以n*0.01v为调节电压，其中，n为当前累计调节次数，可编程电源10从2.3v开始调节自身的供电电压，2.30v为可编程电源10在上升沿测试中第1次的供电电压，接着，可编程电源10再调节其自身的供电电压，并以1*0.01v+2.3v＝2.31v为第1次调节的供电电压，依此类推，可编程电源10以n*0.01v+2.3v为其自身的第n次调节的供电电压，可编程电源10将每次调节得到的供电电压输出至待测模块30，当待测模块30检测到供电电压为阈值电压时，待测模块30生成中断信号，控制模块20将可编程电源10的当前供电电压进行保存。
88.当需对待测模块30进行上升沿测试时，初始电压的计算方式为：
89.vdd＝1.90f+pvd_level*0.14f；
90.其中，vdd表示所述初始电压；f为表示浮点值，也即表示将数值类型转换成浮点类型，1.90f表示将1.90转换成浮点类型；pvd_level表示阈值电压等级值，阈值电压等级值用于表示不同电压监控检测器的等级，待测模块中可以通过电压监控检测器来对供电电压进行监测，而阈值电压等级值即根据待测模块中设置的不同电压监控检测器的等级来确定，例如通常在表示中，寄存器[2:0]＝000，表示阈值电压等级值为0；寄存器[2：0]＝001，表示阈值电压等级值为1，
……
，依次类推。
[0091]
当需要对待测模块30进行下降沿测试时，调节方向为递减方向，以步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，可编程电源10用于将初始电压与调节电压进行相减得到供电电压。例如图4所示，以初始电压为3.3v，步进电压为0.1v为例，供电电压与初始电压、调节次数之间的关系如图4所示。
[0092]
示例的，当待测模块30的阈值电压大约为2.5v时，可以将下降沿测试的初始电压设置为2.7v，步进电压设置为0.01v，控制模块20将初始电压2.7v，步进电压0.01v以及递减方向发送给可编程电源10，可编程电源10以n*0.01v为调节电压，其中，n为当前累计调节次数，可编程电源10从2.7v开始调节自身的供电电压，2.70v为可编程电源10在下降沿测试中第1次的供电电压，接着，可编程电源10再调节其自身的供电电压，并以2.7v-1*0.01v＝2.6v为第1次调节的供电电压，依此类推，可编程电源10以2.7v-n*0.01v为其自身的第n次调节的供电电压，可编程电源10将每次调节得到的供电电压输出至待测模块30，当待测模块30检测到供电电压为阈值电压时，待测模块30生成中断信号，控制模块20将可编程电源10的当前供电电压进行保存。
[0093]
当需对待测模块30进行上升沿测试时，初始电压的计算方式为：
[0094]
vdd＝2.0f+pvd_level*0.16f；
[0095]
其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。
[0096]
待测模块30的工作电压通常为1.9v-3.3v，待测模块30的截止电压为1.9v和3.3v，当待测模块30接收到的供电电压等于截止电压时，控制模块20控制可编程电源10停止电压调节，即停止测试。
[0097]
初始电压为1.9v-3.3v。调节方向为递增方向时，初始电压可以是1.9v，步进电压可以是0.01v。调节方向为递减方向时，初始电压可以是3.3v，步进电压可以是0.01v。
[0098]
进一步地，调节方向为递增方向，阈值电压等于参考电压与第一预设电压的和。
[0099]
调节方向为递减方向，阈值电压等于参考电压与第二预设电压的差。
[0100]
当需要对待测模块30进行上升沿测试时，用户预先使用相应的软件将二进制代码写入待测模块30，该二进制代码代表参考电压，待测模块30中的存储器存储该参考电压。
[0101]
第一预设电压及第二预设电压可以是步进电压的整数倍，例如，步进电压为0.01v，第一预设电压可以是0.01v、0.02v等，第一预设电压可以是0.01v、0.02v等。
[0102]
调节方向为递增方向，阈值电压为上升沿阈值电压，调节方向为递减方向，阈值电压为下降沿阈值电压，上升沿阈值电压与下降沿阈值电压的差为预设值。
[0103]
当供电电压从初始电压与步进电压的和变化至截止电压时，待测模块30均没有生成中断信号，控制模块20重新发送调节信号至可编程电源10，并进行重复测试。
[0104]
在对待测模块30进行上升沿测试时，当供电电压为阈值电压时，待测模块30生成中断信号，控制模块20控制可编程电源10停止电压调节，若测试过程出现故障，当供电电压从初始电压与步进电压的和变化至截止电压时，例如，供电电压从1.9v+0.01v变化至截止电压3.3v时，待测模块30均没有生成中断信号，控制模块20控制待测模块30复位，并重新发送调节信号至可编程电源10，进行重复测试，若重新测试时，供电电压从1.9v+0.01v变化至截止电压3.3v时，待测模块30均没有生成中断信号，控制模块20再重新发送调节信号至可编程电源10，进行重复测试，控制模块20可以对待测模块30进行多次测试，优选的，重新对待测模块30进行三次上升沿测试，若对待测模块30进行多次上升沿测试过程中，当供电电压从初始电压与步进电压的和变化至截止电压时，待测模块30均没有生成中断信号，则控制模块20将对待测模块30的上升沿测试记录为错误。
[0105]
在对待测模块30进行上升沿测试完成时，进行对待测模块30的下降沿测试，当供电电压从初始电压与步进电压的差变化至截止电压时，例如，供电电压从3.3v-0.01v变化至截止电压1.9v时，待测模块30均没有生成中断信号，控制模块20控制待测模块30复位，并重新发送调节信号至可编程电源10，进行重复测试，若重新测试时，供电电压从3.3v-0.01v变化至截止电压1.9v时，待测模块30均没有生成中断信号，控制模块20再重新发送调节信号至可编程电源10，进行重复测试，控制模块20可以对待测模块30进行多次测试，优选的，重新对待测模块30进行三次下降沿测试，若对待测模块30进行多次下降沿测试过程中，当供电电压从初始电压与步进电压的差变化至截止电压时，待测模块30均没有生成中断信号，则控制模块20将对待测模块30的下降沿测试记录为错误。
[0106]
在对待测模块30进行上升沿测试和下降沿测试过程中，通过对测试数据进行自检，从而能够针对有问题的数据进行重新测试。
[0107]
本技术的测试电路，通过可编程电源10调节待测模块30的供电电压，当供电电压为阈值电压时，待测模块30生成中断信号，控制模块20检测到待测模块30产生中断信号时，将可编程电源10的当前供电电压进行保存，并将该当前供电电压记录为待测模块30的阈值电压，从而实现了对待测模块30的阈值电压的自动化检测，提高了测试效率和测试精度。
[0108]
请参考图2，本技术实施例还提供一种测试装置，该测试装置包括上述任一实施例所述的可编程电源10、控制模块20、待测模块30及主控设备40，主控设备40与控制模块20连接，可编程电源10分别与控制模块20及待测模块30连接，控制模块20还与待测模块30连接。
[0109]
主控设备40用于生成调节信号并将调节信号发送至控制模块20。控制模块20用于
将调节信号发送至可编程电源10。待测模块30用于接收供电电压，并判断供电电压是否为阈值电压。当供电电压为所述阈值电压时，待测模块30生成中断信号，当控制模块20检测到待测模块30产生中断信号时，控制模块20将可编程电源10的当前供电电压进行保存。控制模块20还用于将当前供电电压发送至主控设备。控制模块20可以通过串口将当前供电电压以预设格式传输至主控设备40。
[0110]
在该实施例中，调节信号由主控设备计算并生成。主控设备40可以是个人计算机。
[0111]
当对待测模块30的上升沿测试完成时，主控设备将递减方向、步进电压和初始电压通过控制模块20发送给可编程电源10，从而进行对待测模块30的下降沿测试。当对待测模块30的下降沿测试完成时，控制模块20将阈值电压传输至主控设备40。主控设备40对阈值电压的处理包括计算、分类及核对。通过主控设备40对测试数据进行整理，从而使得数据的计算精确，处理效率高。
[0112]
本技术实施例还提供一种测试设备，包括上述测试电路以及测试装置中的可编程电源10以及控制模块20。
[0113]
本技术实施例还提供一种mcu自动化设备，包括可编程电源、控制模块、待测mcu及主控设备。该mcu自动化设备的实现可以参考图2所示的测试装置，区别主要在于将待测模块进一步限定为待测mcu。
[0114]
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0115]
以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。

技术特征：
1.一种自动化电路，其特征在于，包括：用于输出调节信号、并且当待测模块产生中断信号时将可编程电源的当前供电电压进行保存的控制模块，以及用于根据所述调节信号生成并输出供电电压的可编程电源；其中，所述控制模块的输出端与所述可编程电源的输入端连接，将所述控制模块生成的调节信号输出至所述可编程电源；所述调节信号用于调节所述可编程电源输出的供电电压；所述可编程电源的输出端与待测模块的输入端连接，用于向所述待测模块输出供电电压；所述控制模块的输入端与所述待测模块的输出端连接，用于接收所述待测模块在所述供电电压为阈值电压时生成的中断信号。2.根据权利要求1所述的自动化电路，其特征在于，所述调节信号包括：初始电压、步进电压及调节方向。3.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，所述调节方向为递增方向，以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，所述可编程电源用于将所述初始电压与所述调节电压进行相加得到所述供电电压。4.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，所述调节方向为递减方向，以所述步进电压与当前累计调节次数的乘积为调节电压，所述可编程电源用于将所述初始电压与所述调节电压进行相减得到所述供电电压。5.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，所述控制模块根据实际阈值电压的估算值计算所述初始电压。6.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，所述调节方向为递增方向，所述控制模块计算所述初始电压的计算方式为：vdd＝1.90f+pvd_level*0.14f；其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。7.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，所述调节方向为递减方向，所述控制模块计算所述初始电压的计算方式为：vdd＝2.0f+pvd_level*0.16f；其中，vdd表示所述初始电压，f为表示浮点值，pvd_level表示阈值电压等级值。8.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，所述初始电压为1.9v至3.3v。9.根据权利要求2所述的自动化电路，其特征在于，当所述供电电压从所述初始电压变化至截止电压时，所述待测模块均没有生成中断信号，所述控制模块重新发送调节信号至所述可编程电源，并进行重复测试。10.一种mcu自动化设备，其特征在于，包括权利要求1至9任一项所述的自动化电路，其中，所述待测模块是mcu。11.一种mcu自动化设备，其特征在于，包括用于根据调节信号生成并输出供电电压的可编程电源，控制模块，用于判断供电电压是否是阈值电压的待测mcu，及用于生成调节信号的主控设备,所述主控设备与所述控制模块连接,所述可编程电源分别与所述控制模块及所述待测mcu连接,所述控制模块还与所述待测mcu连接；所述主控设备用于将所述调节信号发送至所述控制模块；所述控制模块用于将所述调节信号发送至所述可编程电源；
所述待测mcu用于接收所述供电电压，当所述供电电压为所述阈值电压时，所述待测mcu生成中断信号；所述控制模块用于检测到所述待测mcu产生中断信号时，所述控制模块将所述可编程电源的当前供电电压进行保存；所述控制模块还用于将所述当前供电电压发送至所述主控设备。

技术总结
本申请提供一种自动化电路、MCU自动化设备，自动化电路包括：用于输出调节信号的控制模块、以及用于输出供电电压的可编程电源；其中，控制模块的输出端与可编程电源的输入端连接，将控制模块生成的调节信号输出至可编程电源；调节信号用于调节可编程电源输出的供电电压；可编程电源的输出端与待测模块的输入端连接，用于向待测模块输出供电电压，供电电压由可编程电源根据调节信号生成；控制模块的输入端与待测模块的输出端连接，用于接收待测模块在供电电压为阈值电压时生成的中断信号；控制模块还用于当待测模块产生中断信号时，将可编程电源的当前供电电压进行保存。本申请能够自动测试待测模块的阈值电压。动测试待测模块的阈值电压。动测试待测模块的阈值电压。


技术研发人员：郜超军 张吉红 黄凯文
受保护的技术使用者：郑州大学
技术研发日：2021.07.20
技术公布日：2022/5/25