测试装置及电子设备的制作方法

1.本实用新型涉及pcb测试领域，尤其是涉及一种测试装置及电子设备。


背景技术：

2.目前，pcb(印刷电路板)上的高频电路常常需要经过测试检查，在对高频电路的元器件进行测试时，测试装置通过接入预设的测试点与测试元件形成闭合回路后对回路中的高频信号进行采集并测试，而目前的高频电路往往具有较高的集成度和精密度，当需要测试大量的元器件时，这种测试方式会耗费大量时间和精力，因此，如何提供一种测试装置，能够提高pcb高频电路的测试效率，成为亟待解决的问题。


技术实现要素：

3.本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种测试装置，能够提高对pcb高频电路的测试效率。
4.本实用新型还提出一种具有上述测试装置的电子设备。
5.根据本实用新型的第一方面实施例的测试装置，包括：
6.探针，所述探针用于获取测试信号；
7.针套，所述针套用于连接所述探针，所述针套还用于保护所述探针；
8.保护套，所述保护套用于连接所述针套，所述保护套还用于保护所述探针；
9.信号转接器，所述信号转接器用于连接所述针套，所述信号转接器还用于接收所述探针获取的测试信号并将所述测试信号输出给检测设备进行检测。
10.根据本实用新型实施例的测试装置，至少具有如下有益效果：这种测试装置的探针通过针套与信号转接器相连接，探针可以获取测试信号，并将测试信号输出给信号转接器，信号转接器接收测试信号并将测试信号输出给检测设备进行检测，使得测试装置的单个探针通过单个测试点就能采集待测电路板的测试信号，从而提高对高频电路的测试效率，同时，通过设置保护套能够保护探针不易受到电磁信号的干扰，提高测试装置的工作稳定性。
11.根据本实用新型的一些实施例，所述探针上开设有第一导气口，所述探针包括：
12.针头；
13.弹性件，所述弹性件连接所述针头的一端，用于通过所述第一导气口和所述弹性件控制所述针头伸缩。
14.根据本实用新型的一些实施例，所述探针还包括：
15.旋转部，所述旋转部连接所述针头，所述旋转部用于旋转所述探针。
16.根据本实用新型的一些实施例，所述弹性件为弹簧。
17.根据本实用新型的一些实施例，所述针头为扁形针头。
18.根据本实用新型的一些实施例，所述针套包括：
19.内针套，所述内针套用于连接所述探针；
20.外针套，所述外针套用于连接所述内针套。
21.根据本实用新型的一些实施例，所述内针套上设有第二导气口和焊接槽，所述第二导气口用于控制空气的进入或者导出；所述焊接槽用于容纳所述信号转接器的焊接部。
22.根据本实用新型的一些实施例，所述探针包括第一连接部，所述内针套包括第二连接部，所述第一连接部为外螺纹结构，所述第二连接部为内螺纹结构，用于所述探针和所述内针套通过所述第一连接部和所述第二连接部连接。
23.根据本实用新型的一些实施例，所述信号转接器包括：
24.信号接口，所述信号接口用于连接所述内针套。
25.根据本实用新型实施例的电子设备，至少具有如下有益效果：这种电子设备采用上述的测试装置将探针通过针套与信号转接器相连接，探针可以获取测试信号，并将测试信号输出给信号转接器，信号转接器接收测试信号并将测试信号输出给检测设备进行检测，使得测试装置的单个探针通过单个测试点就能采集待测电路板的测试信号，从而提高对高频电路的测试效率，同时，通过设置保护套能够保护探针不易受到电磁信号的干扰，提高测试装置的工作稳定性。
26.本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
27.下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步的说明，其中：
28.图1为本实用新型实施例的测试装置的结构示意图；
29.图2为本实用新型另一实施例的测试装置的结构示意图；
30.图3为本实用新型另一实施例的测试装置的结构示意图；
31.图4为本实用新型另一实施例的测试装置的结构示意图；
32.图5为本实用新型另一实施例的测试装置的结构示意图；
33.图6为本实用新型另一实施例的测试装置的结构示意图；
34.图7为本实用新型另一实施例的测试装置的结构示意图。
35.附图标记：100、探针；110、第一导气口；120、针头；130、旋转部；140、扁形连接部；200、针套；210、内针套；211、内螺纹；212、第二导气口；213、焊接槽；220、外针套；300、保护套；400、信号转接器；410、信号接口；420、信号转接头；430、螺钉；440、螺纹孔；450、定位销控。
具体实施方式
36.下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
37.在本实用新型的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方
位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
38.在本实用新型的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
39.本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
40.本实用新型的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
41.随着5g时代的到来，数码产品、家电产品、汽车电子、工业电子等领域的电子产品的性能得到进一步的提升，使得市场对于相关的电子产品的需求越来越大。为了使得产品元器件正常接触以及元器件的运作数据正常，需要对已装配元件的印刷电路板进行测试检查。
42.目前，pcb(印刷电路板)上的高频电路常常需要经过测试检查，在对高频电路的元器件进行测试时，测试装置通过接入预设的测试点与测试元件形成闭合回路后对回路中的高频信号进行采集并测试，而目前的高频电路往往具有较高的集成度和精密度，当需要测试大量的元器件时，这种测试方式会耗费大量时间和精力，因此，如何提供一种测试装置，能够提高pcb高频电路的测试效率，成为亟待解决的问题。
43.为此，本实用新型提出一种测试装置，能够提高对pcb高频电路的测试效率。
44.第一方面，参照图1和图2，本实用新型的测试装置包括探针100、针套200、保护套300和信号转接器400，探针100用于获取测试信号；针套200用于连接探针100，针套200还用于保护探针100；保护套300用于连接针套200，保护套300还用于保护探针100；信号转接器400用于连接针套200，信号转接器400还用于接收探针100获取的测试信号并将测试信号输出给检测设备进行检测。在测试装置对电路板进行测试时，通过探针100接触待测电路板的测试点，从而获取待测电路板的测试信号，探针100将获取到的测试信号输出到信号转接器400，信号转接器400接收测试信号并将测试信号输出给检测设备，检测设备接收测试信号并对待测电路板进行检测，从而完成对待测电路板的测试检查。其中，测试装置为单针结构，使得通过待测电路板的单个测试点就能获取测试信号，在对集成度和精密度高的电路板进行测试检查时，通过这种单针测试方式能够降低测试难度，从而提高测试效率。
45.另外，测试装置设置有保护套300，保护套300可以为铜套，外部铜套将探针100整体包住，能够保护探针100不易受到损伤。此外，铜套具有良好的抗腐蚀性和抗氧化性，而且具有较好的抗电磁干扰能力，由于检测过程会产生高频电磁信号，为了避免电磁干扰影响检测结果，因此采用铜套作为保护套300来屏蔽高频电磁信号的干扰，从而提高探针100的工作稳定性。
46.参照图3，在一些具体实施例中，探针100上开设有第一导气口110，探针100包括针
头120和弹性件，弹性件连接针头120的一端，用于通过第一导气口110和弹性件控制针头120伸缩。在探针100的一个横截面上环形开设有四个第一导气口110。在一些其他实施例中，也可以开设其他数量的第一导气口110，不仅限于此。探针100上设有针头120，针头120由碳素工具钢制成，由于碳素工具钢的硬度较高，因此采用碳素工具钢的针头120在工作的过程中不易变形，同时，碳素工具钢的切削加工性能和抗振动性能较好，适用于制作针头120。另外，碳素工具钢的成本较低，采用碳素工具钢制作针头120能够降低测试装置的生产成本。在一些其他实施例中，也可以采用其他材料制作的针头120，不仅限于此。探针100上还设有弹性件，弹性件连接针头120的一端，通过第一导气口110和弹性件能够控制针头120伸缩，提高测试装置在工作过程中的稳定性。
47.参照图3，在一些具体实施例中，探针100还包括旋转部130，旋转部130连接针头120，旋转部130用于旋转探针100。旋转部130为方形形状，当需要更换测试装置的针头120时，通过安装工具(例如扳手)对旋转部130进行旋转就能够松开探针100和针套200的连接。在测试装置的使用过程中，定时更换针头120能够提高测试装置的工作可靠性。
48.在一些具体实施例中，弹性件为弹簧。弹簧设置在探针100内部，在使用测试装置检测待测电路板时，控制弹簧对针头120的弹力不超过预设的弹力阈值，例如，弹簧对针头120的最大弹力约为0.1n。通过控制弹簧对针头120的最大弹力，有效避免了针头120扎坏待测电路板的现象出现，提高了测试装置的使用性能。
49.参照图3，在一些具体实施例中，针头120为扁形针头120。探针100设置有扁型连接部140，以便于与扁形针头120配合相连，同时能够防止针头120旋转。将针头120设置为扁形针头120，从而在测试装置的使用过程中固定探针100只能上下伸缩，而不能旋转，有效减小了检测误差。通过设计扁形针头120能够进一步提高测试装置的使用性能。
50.参照图4至图6，在一些具体实施例中，针套200包括内针套210和外针套220，内针套210用于连接探针100；外针套220用于连接内针套210。探针100和内针套210通过螺纹配合连接，而内针套210又与信号转接器400连接，这样就可以通过内针套210将探针100获取的测试信号传输给信号转接器400，同时，内针套210能够保护探针100受到碰撞时不易受到损坏。外针套220采用ptfe(聚四氟乙烯)材质制成，ptfe材质的摩擦系数较低，低摩擦系数有利于组装零件。同时，ptfe材质在常温下具有良好的机械韧性，能够减少测试装置在使用过程中的振动频率，从而提高探针100接入测试点的精度，进而减小检测误差。
51.参照图4，在一些具体实施例中，内针套210上设有第二导气口212和焊接槽213，第二导气口212用于控制空气的进入或者导出；焊接槽213用于容纳信号转接器400的焊接部。通过第二导气口212能够让空气进入或者导出，从而使得探针100能够顺利进入内针套210。内针套210的前端内孔直径比后端稍大，以便于探针100能够贯入内针套210，例如，内针套210的前端内孔直径比后端大0.05mm。另外，内针套210上设有焊接槽213，以便于内针套210与信号转接器400相连，焊接槽213为u型槽，在一些其他实施例中，也可以是采样其他形状的焊接槽213，不仅限于此。
52.参照图4至图6，在一些具体实施例中，探针100包括第一连接部，内针套210包括第二连接部，第一连接部为外螺纹结构，第二连接部为内螺纹211结构，用于探针100和内针套210通过第一连接部和第二连接部连接。外螺纹在加工时应准确设计好螺纹退刀槽的位置，使外螺纹和内螺纹连接后的高度可以控制在预设的高度阈值内，这样才能在飞针测试时能
够准确控制探针100的针尖的高度，进一步提高测试装置的使用性能。
53.参照图6和图7，在一些具体实施例中，信号转接器400包括信号接口410，信号接口410用于连接内针套210，还用于接收探针100获取到的测试信号，并将测试信号输出给检测设备以进行检测。信号接口410为2.92-kfd219接口，信号转接器还包括信号转接头420，信号转接头420为2.92-jwks信号转接头，测试装置采用两颗螺钉430与保护套固定连接，螺钉430为m2螺钉；另外，设有4个螺纹孔440用来将测试装置的元件固定在z轴传动装置支座上；同时，通过两个定位销控450来精确定位测试装置的位置，用以防止测试装置在运行中发生偏移，造成检测失误。工程设计上常常采用sma和smb结构的信号接头，本技术使用的2.92-jwks信号转接头420的工作频率为40ghz，远高于2.92-sma信号接头的18ghz和2.92-smb信号接头的4ghz，说明2.92-jwks信号转接头420的工作频率范围更广，而且2.92-jwks信号转接头420的工作温度为-55℃到165℃，说明2.92-jwks信号转接头420能够适应大多数的工作环境，因此，相较于2.92-sma信号接头和2.92-smb信号接头，2.92-jwks信号转接头420的性能更好，且工作范围更广。
54.第二方面，本实用新型实施例还提供一种电子设备，包括第一方面所示的测试装置。
55.这种电子设备采用上述实施例的测试装置将探针100通过针套200与信号转接器400相连接，探针100可以获取测试信号，并将测试信号输出给信号转接器400，信号转接器400接收测试信号并将测试信号输出给检测设备进行检测，使得测试装置的单个探针100通过单个测试点就能采集待测电路板的测试信号，从而提高对高频电路的测试效率，同时，通过设置保护套300能够保护探针100不易受到电磁信号的干扰，提高测试装置的工作稳定性。
56.上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明，但是本实用新型不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本实用新型的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

技术特征：
1.测试装置，其特征在于，包括：探针，所述探针用于获取测试信号；针套，所述针套用于连接所述探针，所述针套还用于保护所述探针；保护套，所述保护套用于连接所述针套，所述保护套还用于保护所述探针；信号转接器，所述信号转接器用于连接所述针套，所述信号转接器还用于接收所述探针获取的测试信号并将所述测试信号输出给检测设备进行检测。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述探针上开设有第一导气口，所述探针包括：针头；弹性件，所述弹性件连接所述针头的一端，用于通过所述第一导气口和所述弹性件控制所述针头伸缩。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述探针还包括：旋转部，所述旋转部连接所述针头，所述旋转部用于旋转所述探针。4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述弹性件为弹簧。5.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述针头为扁形针头。6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述针套包括：内针套，所述内针套用于连接所述探针；外针套，所述外针套用于连接所述内针套。7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述内针套上设有第二导气口和焊接槽，所述第二导气口用于控制空气的进入或者导出；所述焊接槽用于容纳所述信号转接器的焊接部。8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述探针包括第一连接部，所述内针套包括第二连接部，所述第一连接部为外螺纹结构，所述第二连接部为内螺纹结构，用于所述探针和所述内针套通过所述第一连接部和所述第二连接部连接。9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述信号转接器包括：信号接口，所述信号接口用于连接所述内针套。10.电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求1至9任一项所述的测试装置。

技术总结
本实用新型公开了一种测试装置及电子设备，属于PCB测试领域。测试装置包括探针、针套、保护套和信号转接器；探针用于获取测试信号；针套用于连接探针，针套还用于保护探针；保护套用于连接针套，保护套还用于保护探针；信号转接器用于连接针套，信号转接器还用于接收探针获取的测试信号并将测试信号输出给检测设备进行检测。这种测试装置能够通过单个测试点就能采集待测电路板的测试信号，提高了对高频电路的测试效率。电路的测试效率。电路的测试效率。


技术研发人员：汪兴友 岳小卫 刘龑
受保护的技术使用者：深圳橙子自动化有限公司
技术研发日：2021.11.09
技术公布日：2022/5/25