1.本实用新型特别涉及一种芯片检测装置。
背景技术:
2.现有技术情况:芯片是一种集成电路,由大量的晶体管构成。不同的芯片有不同的集成规模,大到几亿;小到几十、几百个晶体管。晶体管有两种状态,开和关,用1、0来表示。多个晶体管产生的多个1与0的信号,这些信号被设定成特定的功能(即指令和数据),来表示或处理字母、数字、颜色和图形等。芯片加电以后,首先产生一个启动指令,来启动芯片,以后就不断接受新指令和数据,来完成功能。现有的芯片在进行使用之前需要进行检测,检测的方式大同小异,在现有技术中已经成熟的检测方式,但是存在效率低的问题,为了优化这种装置,本实用新型在利用双工位的原理下提出了一种芯片检测装置。
技术实现要素:
3.为解决上述技术问题,本实用新型的目的在于提供一种芯片检测装置,包括安装板,所述安装板上设置有转动放置座,所述安装板通过伸缩杆连接有移动板,所述安装板下方设置伸缩电缸,所述伸缩电缸的输出轴连接驱动所述移动板移动,所述移动板上设置有检测装置,所述检测装置位于所述转动放置座的上方,所述转动放置座远离所述检测装置的一端设置有限位装置。
4.作为优选,所述转动放置座包括转动台,所述转动台放置在所述安装板的上表面,所述转动台上转动连接有支撑片,所述支撑片能够转动且两端对称安装有托板,所述托板上对称设置有放置台,所述放置台外侧设置有放置槽。
5.作为优选,所述支撑片通过内六角螺栓连接固定所述托板的中心位置。
6.作为优选,所述移动板包括安装板面,所述安装板面上表面通过螺栓固定安装有连接板,所述连接板固定连接检测装置的支撑板体,连接方式为焊接固定。
7.作为优选,所述支撑板体为l型,所述支撑板体上设置有推拉电缸,所述推拉电缸的输出轴向下设置且贯穿所述支撑板体,所述输出轴连接固定有检测单元,所述检测单元包括对称设置的显示屏,所述显示屏的下方设置有控制器,所述控制器下设置有检测探头,所述检测探头对应所述放置台位置。
8.作为优选,所述限位装置包括转动座,所述转动座转动连接有转动单元,所述转动单元靠近所述转动放置座的一端设置有连接杆,所述连接杆上套接有弹簧,所述连接杆的另一端连接有限位座,所述连接杆能够在所述转动单元上移动。
9.作为优选,所述限位座上设置有把手。
10.与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:通过设置的转动放置台,可以实现在进行芯片检测时,对没有进行检测位置的放置台进行上下取放芯片的操作,可以提高装置的工作效率。
附图说明
11.图1本实用新型部分结构俯视示意图;
12.图2本实用新型结构示意图;
13.图3本实用新型不同状态下结构示意图;
14.图4本实用新型部分结构示意图。
具体实施方式
15.下面将结合本实用新型的实施例提供的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的较佳实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的较佳实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型的保护范围。下面对本实用新型作进一步详细说明。
16.在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。前述定义仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的结构必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
17.如图1-4所示,本实用新型提供一种芯片检测装置,包括安装板1,所述安装板1上设置有转动放置座2,所述安装板1通过伸缩杆31连接有移动板3,所述安装板1下方设置伸缩电缸,所述伸缩电缸的输出轴11连接驱动所述移动板3移动,所述移动板3上设置有检测装置4,所述检测装置4位于所述转动放置座2的上方,所述转动放置座2远离所述检测装置4的一端设置有限位装置5。
18.所述转动放置座2包括转动台21,所述转动台21放置在所述安装板1的上表面,所述转动台21上转动连接有支撑片22,所述支撑片22能够转动且两端对称安装有托板23,所述托板23上对称设置有放置台25,所述放置台25外侧设置有放置槽26。
19.所述支撑片22通过内六角螺栓24连接固定所述托板23的中心位置。
20.所述移动板3包括安装板面32,所述安装板面32上表面通过螺栓33固定安装有连接板34,所述连接板34固定连接检测装置4的支撑板体42,连接方式为焊接固定。
21.所述支撑板体42为l型,所述支撑板体42上设置有推拉电缸41,所述推拉电缸41的输出轴向下设置且贯穿所述支撑板体42,所述输出轴连接固定有检测单元43,所述检测单元43包括对称设置的显示屏44,所述显示屏44的下方设置有控制器45,所述控制器45下设置有检测探头46,所述检测探头46对应所述放置台25位置。
22.所述限位装置5包括转动座51,所述转动座51转动连接有转动单元52,所述转动单元52靠近所述转动放置座2的一端设置有连接杆53,所述连接杆53上套接有弹簧54,所述连接杆53的另一端连接有限位座55,所述连接杆53能够在所述转动单元52上移动。
23.所述限位座55上设置有把手56。
24.装置使用时,首先将所述限位装置5向上抬起,此时的转动放置座2可以转动,操作人员可以将放置芯片后的转动放置座2转动至检测装置4的下方,之后使用限位装置5将所述转动放置座2限位定位,,之后通过检测装置4进行检测,并且再次过程中,可以通过使伸缩电缸的输出轴11移动的方式将检测装置4的位置移动,方便进行检测。
25.最后说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
技术特征:
1.一种芯片检测装置,其特征在于,包括安装板,所述安装板上设置有转动放置座,所述安装板通过伸缩杆连接有移动板,所述安装板下方设置伸缩电缸,所述伸缩电缸的输出轴连接驱动所述移动板移动,所述移动板上设置有检测装置,所述检测装置位于所述转动放置座的上方,所述转动放置座远离所述检测装置的一端设置有限位装置。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于,所述转动放置座包括转动台,所述转动台放置在所述安装板的上表面,所述转动台上转动连接有支撑片,所述支撑片能够转动且两端对称安装有托板,所述托板上对称设置有放置台,所述放置台外侧设置有放置槽。3.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置,其特征在于,所述支撑片通过内六角螺栓连接固定所述托板的中心位置。4.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置,其特征在于,所述移动板包括安装板面,所述安装板面上表面通过螺栓固定安装有连接板,所述连接板固定连接检测装置的支撑板体,连接方式为焊接固定。5.根据权利要求4所述的一种芯片检测装置,其特征在于,所述支撑板体为l型,所述支撑板体上设置有推拉电缸,所述推拉电缸的输出轴向下设置且贯穿所述支撑板体,所述输出轴连接固定有检测单元,所述检测单元包括对称设置的显示屏,所述显示屏的下方设置有控制器,所述控制器下设置有检测探头,所述检测探头对应所述放置台位置。6.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置,其特征在于,所述限位装置包括转动座,所述转动座转动连接有转动单元,所述转动单元靠近所述转动放置座的一端设置有连接杆,所述连接杆上套接有弹簧,所述连接杆的另一端连接有限位座,所述连接杆能够在所述转动单元上移动。7.根据权利要求6所述的一种芯片检测装置,其特征在于,所述限位座上设置有把手。
技术总结
本实用新型公开了一种芯片检测装置,包括安装板,所述安装板上设置有转动放置座,所述安装板通过伸缩杆连接有移动板,所述安装板下方设置伸缩电缸,所述伸缩电缸的输出轴连接驱动所述移动板移动,所述移动板上设置有检测装置,所述检测装置位于所述转动放置座的上方,所述转动放置座远离所述检测装置的一端设置有限位装置。通过设置的转动放置台,可以实现在进行芯片检测时,对没有进行检测位置的放置台进行上下取放芯片的操作,可以提高装置的工作效率。作效率。作效率。
技术研发人员:王利明 占千
受保护的技术使用者:苏州高邦半导体科技有限公司
技术研发日:2021.04.21
技术公布日:2022/5/25
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