电池内部铜排内阻的测试方法、装置、设备及存储介质与流程

    专利查询2025-05-16  2


    本发明属于锂电池,具体涉及电池内部铜排内阻的测试方法、装置、设备及存储介质。


    背景技术:

    1、磷酸铁锂电池,是一种使用磷酸铁锂作为正极材料,碳作为负极材料的锂离子电池。磷酸铁锂电池具有工作电压高、能量密度大、循环寿命长、安全性能好、自放电率小、无记忆效应的优点。磷酸铁锂电池由于其安全性好、成本低等优点,广泛应用于叉车等设备。

    2、目前常规的电池组跨接铜排电压采集补偿方法主要有两种,一种是通过设备、充电器、负载对电池包进行恒电流充/放电,再使用万用表或其他电压测量仪器测量跨接铜排两端的电压,通过公式r=u/i(即跨接铜排两端的电压除以充/放电电流)计算出跨接铜排阻值再写入电池软件(电池管理系统)进行补偿;另一种是通过直流阻抗测试仪直接测量得到跨接铜排两端的阻值,然后写入电池软件(电池管理系统)进行补偿;

    3、由于电池组电池管理系统的电压采集工艺主要为螺栓固定或焊接固定,而测量时主要为表针接触或测试夹接触,且测量的位置对结果影响较大,当电池组结构排布精密或结构复杂时,无法进行准确测量,容易导致实际测量的结果写入电池管理系统后存在补偿偏差。同时上述两种电池组跨接铜排电压采集补偿方法均需要手动进行测量,当电池组装配完成后便无法进行测量,只能在电池包装配完成前或电池包拆盖后进行测量。另外在电池组结构复杂时,会使得铜排测量空间不足,从而容易导致无法测量或测量位置不佳等因素影响测量结果的精确度。

    4、综上所述,相关领域中亟需一种电池内部跨接铜排内阻的测量方法,使得该测量方法能够克服上述现有技术中的跨接铜排内阻的测量方法所存在的问题。


    技术实现思路

    1、本发明提供一种电池内部铜排内阻的测试方法、装置、设备及存储介质,用以解决现有技术中跨接铜排内阻的测量方法所存在的问题。

    2、为了解决上述技术问题,第一方面,本发明提供一种电池内部铜排内阻的测试方法,包括:

    3、采集电池组的电压,判断所述电池组中的跨接铜排是否对所述电池组的电压有影响;

    4、若是则控制所述电池组的电压值在预设条件下变化,其中,在所述电池组中,与所述跨接铜排连接的电芯的电压值能够随着所述预设条件和所述跨接铜排的阻值的变化而变化;

    5、待所述电池组的电压值变化停止时,获取电池组中电芯的最高电压和最低电压;

    6、根据所述最高电压、所述最低电压以及所述预设条件,确定所述跨接铜排的补偿阻值。

    7、可选的,所述采集电池组的电压,判断所述电池组中的跨接铜排是否对所述电池组的电压有影响,包括:

    8、对所述电池组进行充放电,判断所述电池组中电芯的电压变化是否超出正常水平,若是则判断所述电池组中的跨接铜排对所述电池组的电压有影响。

    9、可选的,所述对所述电池组进行充放电,判断所述电池组中电芯的电压变化是否超出正常水平,包括:

    10、对所述电池组进行充电,观测所述电池组充电时的充电末端最高电压所在的最高电压电芯位置;

    11、对所述电池组进行放电,观测所述电池组放电时的放电末端最低电压所在的最低电压电芯位置;

    12、判断所述最高电压电芯位置与所述最低电压电芯位置是否相同,若是则判定所述电池组中充放电时的电压变化超出正常水平。

    13、可选的,所述若是则控制所述电池组的电压值在预设条件下变化,包括:

    14、若是则采用预设的恒流值对电池组进行放电,控制所述电池组的电压值随着放电时间变化。

    15、可选的,所述根据所述最高电压、最低电压和所述预设条件,确定所述跨接铜排的补偿阻值,包括:

    16、记录采用第一恒流值对所述电池组进行放电时,所述电池组中电芯的最高电压和最低电压的第一电压差;

    17、记录采用第二恒流值对所述电池组进行放电时,所述电池组中电芯的最高电压和最低电压的第二电压差,其中,所述第一恒流值大于所述第二恒流值;

    18、计算得到所述第一恒流值和所述第二恒流值的恒流差值,以及所述第一电压差和所述第二电压差的电压差值;

    19、计算所述电压差值和所述恒流差值的商,得到所述跨接铜排的补偿阻值。

    20、可选的,所述对所述电池组进行放电,观测所述电池组放电时的放电末端最低电压所在的最低电压电芯位置,包括:

    21、对所述电池组采用预设倍数的额定电流进行恒流放电,直至电池系统触发保护机制时,观测所述电池组放电时的放电末端最低电压所在的最低电压电芯位置。

    22、可选的,在所述对所述电池组进行充电,观测所述电池组充电时的充电末端最高电压所在的最高电压电芯位置之后,所述对所述电池组进行放电,观测所述电池组放电时的放电末端最低电压所在的最低电压电芯位置之前,还包括:

    23、静置所述电池组预设时间,直至所述电池组状态稳定。

    24、第二方面,本发明提供一种电池内部铜排内阻的测试装置,包括:

    25、判断模块,用于采集电池组的电压,判断所述电池组中的跨接铜排是否对所述电池组的电压有影响;

    26、控制模块,若是则用于控制所述电池组的电压值在预设条件下变化,其中,在所述电池组中,与所述跨接铜排连接的电芯的电压值能够随着所述预设条件和所述跨接铜排的阻值的变化而变化;

    27、获取模块,用于待所述电池组的电压值变化停止时,获取电池组中电芯的最高电压和最低电压;

    28、确定模块,用于根据所述最高电压、所述最低电压以及所述预设条件,确定所述跨接铜排的补偿阻值。

    29、第三方面,本发明提供一种电池内部铜排内阻的测试设备,包括存储器和处理器,其中:

    30、所述存储器用于存储计算机程序;

    31、所述处理器用于读取所述存储器中的程序并执行如上述第一方面提供的电池内部铜排内阻的测试方法的步骤。

    32、第四方面,本发明提供一种计算机可读存储介质,其上存储有可读的计算机程序,该程序被处理器执行时实现如上述第一方面提供的电池内部铜排内阻的测试方法的步骤。

    33、与现有技术相比,本发明提供的一种电池内部铜排内阻的测试方法,具有以下有益效果:

    34、本发明中控制电池组的电压值在预设条件下变化,可以理解电池组中连接有跨接铜排的电芯,相较于未连接有跨接铜排的电芯而言,电压变化更大。这样当电池组的电压在增大时,电池组中电芯的最高电压为连接有跨接铜排的电芯的电压值,电池组中电芯的最低电压为未连接有跨接铜排的电芯的电压值;当电池组的电压在减小时,电池组中电芯的最高电压为未连接有跨接铜排的电芯的电压值,电池组中电芯的最低电压为连接有跨接铜排的电芯的电压值。因此可以理解在电池组的电压值变化停止时,电池组中电芯的最高电压相较于最低电压多出的电压值,即为跨接铜排所带来的电压变量,这样通过这个电压变量和预设条件,自然可以计算得到跨接铜排的补偿阻值。并且本发明只通过获取电池组电芯两端的电压即可得到跨接铜排的补偿阻值,从而避免了对跨接铜排手动测量阻值,避免了现有技术中手动测量跨接铜排的补偿阻值所导致的当电池组装配完成后便无法进行测量的问题,以及在电池组结构复杂时,会使得铜排测量空间不足,从而容易导致无法测量或测量位置不佳等因素影响测量结果的精确度等问题。


    技术特征:

    1.一种电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,包括:

    2.根据权利要求1所述的电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,所述采集电池组的电压,判断所述电池组中的跨接铜排是否对所述电池组的电压有影响,包括:

    3.根据权利要求2所述的电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,所述对所述电池组进行充放电,判断所述电池组中电芯的电压变化是否超出正常水平,包括:

    4.根据权利要求1所述的电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,所述若是则控制所述电池组的电压值在预设条件下变化,包括:

    5.根据权利要求4所述的电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,所述根据所述最高电压、最低电压和所述预设条件,确定所述跨接铜排的补偿阻值,包括:

    6.根据权利要求3所述的电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,所述对所述电池组进行放电,观测所述电池组放电时的放电末端最低电压所在的最低电压电芯位置,包括:

    7.根据权利要求3所述的电池内部铜排内阻的测试方法,其特征在于,在所述对所述电池组进行充电,观测所述电池组充电时的充电末端最高电压所在的最高电压电芯位置之后,所述对所述电池组进行放电,观测所述电池组放电时的放电末端最低电压所在的最低电压电芯位置之前,还包括:

    8.一种电池内部铜排内阻的测试装置,其特征在于,包括:

    9.一种电池内部铜排内阻的测试设备,其特征在于,包括存储器和处理器,其中:

    10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有可读的计算机程序,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7所述的任一电池内部铜排内阻的测试方法的步骤。


    技术总结
    本发明属于锂电池技术领域,公开了一种电池内部铜排内阻的测试方法、装置、设备及存储介质,该测试方法包括:采集电池组的电压,判断所述电池组中的跨接铜排是否所述对电池组的电压有影响;若是则控制所述电池组的电压值在预设条件下变化,其中,在所述电池组中,与所述跨接铜排连接的电芯的电压值能够随着所述预设条件和所述跨接铜排的阻值的变化而变化;待所述电池组的电压值变化停止时,获取电池组中电芯的最高电压和最低电压;根据所述最高电压、所述最低电压以及所述预设条件,确定所述跨接铜排的补偿阻值。本发明解决了现有技术中跨接铜排内阻的测量方法所存在的问题。

    技术研发人员:林典明,王刚,邹权福
    受保护的技术使用者:惠州市乐亿通科技股份有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/11/26
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