本公开的实施例涉及集成电路，尤其涉及窄脉冲测试方法、窄脉冲测试电路和ate测试系统。
背景技术：
1、集成电路生产制造的最后一道流程为自动测试设备（automatic testequipment，ate）测试，通过ate测试筛除不符合设计要求的芯片并得到符合设计要求的芯片，其中，ate测试包括对芯片的各种参数进行测试，如直流参数、交流参数、功能测试和逻辑测试等。窄脉冲测试是一项比较常见的芯片测试，如直流（direct current，dc）-dc转换器中最小导通时间和最小关断时间测试，其中，窄脉冲一般指脉宽为100ns以内的脉冲。
2、窄脉冲测试中由于测试信号的脉宽较窄，并且受到振铃现象、寄生电感和电容等因素的，因此窄脉冲测试的准确性和稳定性难以保证。
技术实现思路
1、本公开提供了一种窄脉冲测试方法、窄脉冲测试电路和ate测试系统，能够窄脉冲测试的准确性和稳定性。
2、第一方面，本公开提供了一种窄脉冲测试方法，应用于自动测试设备ate测试系统中，该窄脉冲测试方法包括：
3、在窄脉冲测试模式下，对目标脉冲信号进行降频处理，得到第一测试信号，所述第一测试信号的频率为所述目标脉冲信号的频率的1/n，n为大于1的整数；对所述目标脉冲信号进行转换处理，得到第二测试信号，所述第二测试信号为所述目标脉冲信号的等效直流信号；测量所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压；根据所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽。
4、在本公开的一些实施例中，所述对目标脉冲信号进行降频处理，得到第一测试信号包括：
5、对所述目标脉冲信号进行n分频处理，得到预设占空比的所述第一测试信号。
6、在本公开的一些实施例中，所述对所述目标脉冲信号进行转换处理，得到第二测试信号包括：
7、基于第一输出电阻，将所述目标脉冲信号转换为第一中间脉冲信号，以提高所述目标脉冲信号的驱动能力；将所述第一中间脉冲信号的高电平移位至预设电压，所述第一中间脉冲信号的低电平移位至地电位，得到第二中间脉冲信号，所述第二中间脉冲信号和所述目标脉冲信号的频率和脉宽相等；将所述第二中间脉冲信号转换为直流信号，得到中间直流信号；基于第二输出电阻将所述中间直流信号转换为所述第二测试信号，以提高所述中间直流信号的驱动能力。
8、在本公开的一些实施例中，所述根据所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽包括：
9、根据所述第二中间脉冲信号的高电平、所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽。
10、在本公开的一些实施例中，所述根据所述第二中间脉冲信号的高电平、所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽包括：
11、根据如下公式确定所述目标脉冲信号的脉宽w：
12、w=vout/(vinfn)
13、其中，vout为所述第二测试信号的电压，vin为所述第二中间脉冲信号的高电平，f为所述第一测试信号的频率。
14、第二方面，本公开提供了一种窄脉冲测试电路，应用于ate测试系统的芯片中，所述窄脉冲测试电路包括转换模块和降频模块。
15、所述降频模块被配置为，在窄脉冲测试模式下，对目标脉冲信号进行降频处理，得到第一测试信号，所述第一测试信号的频率为所述目标脉冲信号的频率的1/n，n为大于1的整数。
16、所述转换模块被配置为，在所述窄脉冲测试模式下，对所述目标脉冲信号进行转换处理，得到第二测试信号，所述第二测试信号为所述目标脉冲信号的等效直流信号。
17、其中，所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压用于确定所述目标脉冲信号的脉宽。
18、在本公开的一些实施例中，所述降频模块包括分频器，所述分频器的输入端连接所述窄脉冲测试电路的输入端，所述分频器的输出端连接所述窄脉冲测试电路的第一输出端。
19、所述分频器被配置为，对所述目标脉冲信号进行n分频处理，得到预设占空比的所述第一测试信号。
20、在本公开的一些实施例中，所述转换模块包括逻辑驱动单元、rc网络单元和电压驱动单元，所述逻辑驱动单元的输入端连接所述窄脉冲测试电路的输入端，所述逻辑驱动单元的输出端连接通过所述rc网络单元连接所述电压驱动单元的输入端，所述电压驱动单元的输出端连接所述窄脉冲测试电路的第二输出端。
21、所述逻辑驱动单元被配置为，基于第一输出电阻，将所述目标脉冲信号转换为第一中间脉冲信号，以提高所述目标脉冲信号的驱动能力；将所述第一中间脉冲信号的高电平移位至预设电压，所述第一中间脉冲信号的低电平移位至地电位，得到第二中间脉冲信号，所述第二中间脉冲信号和所述目标脉冲信号的频率和脉宽相等。
22、所述rc网络单元被配置为，将所述第二中间脉冲信号转换为直流信号，得到中间直流信号。所述电压驱动单元被配置为，将所述第二中间直流信号转换为所述第二测试信号，以提高所述中间直流信号的驱动能力。
23、在本公开的一些实施例中，所述rc网络单元包括多级串联的rc网络，各级所述rc网络包括电阻和电容。
24、第一级rc网络的电阻的第一端连接所述逻辑驱动单元的输出端，最后一级rc网络的电阻的第二端连接所述最后一级rc网络的电容的第一极板和所述电压驱动单元的输入端。前一级rc网络的电阻的第二端连接所述前一级rc网络的电容的第一极板和所述后一级rc网络的电阻的第一端，各级所述rc网络的电容的第二极板接地。
25、第三方面，本公开提供了一种ate测试系统，包括ate和与所述ate连接的芯片，所述芯片包括第二方面提供的任一窄脉冲测试电路。
26、所述ate被配置为，测量所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，根据所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽。
27、本公开的技术方案中提供了一种窄脉冲测试方法，通过在窄脉冲测试模式下，对目标脉冲信号进行降频处理，得到第一测试信号，对目标脉冲信号进行转换处理，得到第二测试信号，测量第一测试信号的频率和第二测试信号的电压，并根据第一测试信号的频率和第二测试信号的电压，确定目标脉冲信号的脉宽，可以将窄脉冲信号的脉宽测量转换为其等效直流电压的测量和频率的测量，而振铃现象、寄生电感和寄生电容对窄脉冲信号的等效直流电压和频率的影响较小，故而能够得到比较准确的窄脉冲信号的脉宽，从而能够提高窄脉冲测试的准确性和稳定性。
1.一种窄脉冲测试方法，其特征在于，应用于自动测试设备ate测试系统中，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对目标脉冲信号进行降频处理，得到第一测试信号包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述目标脉冲信号进行转换处理，得到第二测试信号包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二中间脉冲信号的高电平、所述第一测试信号的频率和所述第二测试信号的电压，确定所述目标脉冲信号的脉宽包括：
6.一种窄脉冲测试电路，其特征在于，应用于ate测试系统的芯片中，所述窄脉冲测试电路包括：转换模块和降频模块；
7.根据权利要求6所述的窄脉冲测试电路，其特征在于，所述降频模块包括分频器；
8.根据权利要求6所述的窄脉冲测试电路，其特征在于，所述转换模块包括逻辑驱动单元、rc网络单元和电压驱动单元；
9.根据权利要求8所述的窄脉冲测试电路，其特征在于，所述rc网络单元包括多级串联的rc网络，各级所述rc网络包括电阻和电容；
10.一种ate测试系统，其特征在于，包括ate和与所述ate连接的芯片；
