上下料装置及方法与流程

    专利查询2025-07-23  19


    本申请涉及产品上下料,特别是涉及一种上下料装置及方法。


    背景技术:

    1、在自动化生产加工以及测试作业过程中,产品通常伴随有上下料动作。如在芯片进行测试作业时,需将待测试的芯片上料至测试位进行电性压接测试,且在芯片测试作业完成之后,测试完后的芯片需进行下料作业,以将测试完后的芯片流转至下一工序进行处理。

    2、目前,在产品的上下料过程中,通过机械臂同时抓取多个产品,将多个产品同步送至测试位进行测试作业,但在针对多个测试位的上下料作业时,机械臂需依次运动至各测试位进行产品的次序上料,且在产品测试完成之后,机械臂又需依次运动至各测试位进行产品的次序下料。由于产品在各测试位进行上下料需消耗一定时间,即产品需等待上一测试位完成上下料作业之后,才能继续流转至下一测试位进行产品的上下料作业,导致产品在各测试位的上下料作业需花费较长时间,严重影响产品的上下料效率。


    技术实现思路

    1、基于此,有必要针对现有产品上下料效率过低的问题,提供一种上下料装置及方法。

    2、一种上下料装置,所述上下料装置包括:

    3、机台;

    4、送料轨,所述送料轨设置于所述机台,且具有上料位与下料位,沿所述送料轨的延伸方向具有间隔设置的多个测试位;

    5、上料模组,所述上料模组包括与多个所述测试位对应的多根上料轴,所述上料轴具有承载产品的第一承载腔,多根所述上料轴滑动设置于所述送料轨,且可在所述上料位与对应的所述测试位之间往复运动;

    6、下料模组,所述下料模组包括与多个所述测试位对应的多根下料轴,所述下料轴具有承载产品的第二承载腔,多根所述下料轴滑动设置于所述送料轨,且可在所述下料位与对应的所述测试位之间往复运动。

    7、在其中一个实施例中,所述上料模组具有第一收拢状态与第一伸张状态,当所述上料模组处于所述第一收拢状态时,多根所述上料轴并列位于所述上料位,当所述上料模组处于所述第一伸张状态时,多根所述上料轴对应运动至多个所述测试位;

    8、所述下料模组具有第二收拢状态与第二伸张状态,当所述下料模组处于第二收拢状态时,多根所述下料轴并列位于所述下料位,当所述下料模组处于第二伸张状态时,多根所述下料轴对应运动至多个所述测试位。

    9、在其中一个实施例中,在所述产品的上料过程中,多根所述上料轴可同步运动至所述上料位,且多根所述上料轴可同步运动至对应的所述测试位;

    10、在所述产品的下料过程中,多根所述下料轴可同步运动至所述下料位,且多根所述下料轴可同步运动至对应的所述测试位。

    11、在其中一个实施例中,所述机台具有取料位与放料位,所述取料位堆叠有待测所述产品,所述放料位供测试完后所述产品的放料;

    12、所述上下料装置还包括取料模组与放料模组,所述取料模组与所述放料模组均设置于所述机台,所述取料模组包括第一驱动件及与所述第一驱动件传动连接的多个第一吸附模块,多个所述第一吸附模块可在所述取料位与所述上料位之间运动,所述放料模组包括多个第二吸附模块,多个所述第二吸附模块可在所述下料位与所述放料位之间运动。

    13、在其中一个实施例中,所述放料模组还包括与多个所述第二吸附模块对应的多个第二驱动件,所述第二驱动件与对应的所述第二吸附模块传动连接。

    14、在其中一个实施例中,所述上下料装置还包括取盘模组,所述取盘模组可移动地设置于所述机台,且可运动至所述放料位,所述取盘模组用于将空tray盘送料至所述放料位进行所述产品的下料承载。

    15、在其中一个实施例中,所述取盘模组包括固定架及均设置于所述固定架的摄像模块、第三驱动件与吸盘,所述固定架可移动地设置于所述机台,所述摄像模块用于所述空tray盘的定位,所述吸盘与所述第三驱动件传动连接,用于所述空tray盘的吸附。

    16、在其中一个实施例中,所述上下料装置还包括定位模组,所述定位模组设置于所述机台,且位于所述上料位,所述定位模组用于判定多根所述上料轴的所述第一承载腔是否承载有所述产品,及获取多根所述上料轴的位置信息。

    17、在其中一个实施例中,所述上下料装置还包括位置调整模组,所述位置调整模组设置于所述机台,用于调整所述机台与所述送料轨的相对位置。

    18、一种如上述技术方案任一项所述的上下料装置的上下料方法,所述上下料方法包括以下步骤:

    19、多根所述上料轴均运动至所述上料位,并于所述上料位进行所述产品的上料操作;

    20、待多根所述上料轴的所述第一承载腔内均承载有所述产品,多根所述上料轴运动至对应的所述测试位,将所述产品送至对应所述测试位进行测试;

    21、多根所述上料轴运动至所述上料位,且多根所述下料轴运动至对应的所述测试位,以对测试完后的所述产品进行承载操作;

    22、待多根所述下料轴的所述第二承载腔内均承载有测试完后的所述产品,多根所述下料轴运动至所述下料位进行下料操作。

    23、上述上下料装置及方法,首先,多根上料轴均运动至上料位,并于上料位进行产品的上料操作;然后,待多根上料轴的第一承载腔内均承载有产品,多根上料轴运动至对应的测试位,将产品依次送至对应测试位进行测试;接着,多根上料轴运动至上料位,且多根下料轴运动至对应测试位,以对测试完后的产品进行承载操作;最后,待多根下料轴的第二承载腔内均承载有测试完后的产品,多根下料轴运动至下料位进行下料操作。本申请提供的上下料装置,通过多根上料轴在上料位与对应测试位之间的往复运动,及多根下料轴在下料位与对应测试位之间的往复运动,可同时实现产品于多个测试位的批量自动上下料,且通过上料模组与下料模组在测试位的交替运动,可缩短产品的上下料与测试时间,提高产品的上下料与测试效率。



    技术特征:

    1.一种上下料装置,其特征在于,所述上下料装置包括:

    2.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述上料模组具有第一收拢状态与第一伸张状态,当所述上料模组处于所述第一收拢状态时,多根所述上料轴并列位于所述上料位,当所述上料模组处于所述第一伸张状态时,多根所述上料轴对应运动至多个所述测试位;

    3.根据权利要求1或2任一项所述的上下料装置,其特征在于,在所述产品的上料过程中,多根所述上料轴可同步运动至所述上料位,且多根所述上料轴可同步运动至对应的所述测试位;

    4.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述机台具有取料位与放料位,所述取料位堆叠有待测所述产品,所述放料位供测试完后所述产品的放料;

    5.根据权利要求4所述的上下料装置,其特征在于,所述放料模组还包括与多个所述第二吸附模块对应的多个第二驱动件,所述第二驱动件与对应的所述第二吸附模块传动连接。

    6.根据权利要求4所述的上下料装置,其特征在于,所述上下料装置还包括取盘模组,所述取盘模组可移动地设置于所述机台,且可运动至所述放料位,所述取盘模组用于将空tray盘送料至所述放料位进行所述产品的下料承载。

    7.根据权利要求6所述的上下料装置,其特征在于,所述取盘模组包括固定架及均设置于所述固定架的摄像模块、第三驱动件与吸盘,所述固定架可移动地设置于所述机台,所述摄像模块用于所述空tray盘的定位,所述吸盘与所述第三驱动件传动连接,用于所述空tray盘的吸附。

    8.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述上下料装置还包括定位模组,所述定位模组设置于所述机台,且位于所述上料位,所述定位模组用于判定多根所述上料轴的所述第一承载腔是否承载有所述产品,及获取多根所述上料轴的位置信息。

    9.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述上下料装置还包括位置调整模组,所述位置调整模组设置于所述机台,用于调整所述机台与所述送料轨的相对位置。

    10.一种如权利要求1-9任一项所述的上下料装置的上下料方法,其特征在于,所述上下料方法包括以下步骤:


    技术总结
    本申请涉及一种上下料装置及方法,上下料装置包括机台、送料轨、上料模组与下料模组,送料轨设置于机台,且具有上料位与下料位,沿送料轨的延伸方向具有间隔设置的多个测试位;上料模组包括与多个测试位对应的多根上料轴,上料轴具有承载产品的第一承载腔,多根上料轴滑动设置于送料轨,且可在上料位与对应的测试位之间往复运动;下料模组包括与多个测试位对应的多根下料轴,下料轴具有承载产品的第二承载腔,多根下料轴滑动设置于送料轨,且可在下料位与对应的测试位之间往复运动。本申请提供的上下料装置,可同时实现产品于多个测试位的批量自动上下料,且通过上料模组与下料模组在测试位的交替运动,可缩短产品的上下料与测试时间。

    技术研发人员:倪彬,史赛
    受保护的技术使用者:苏州华兴源创科技股份有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/11/26
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