本发明涉及芯片测试，具体为一种芯片测试装置及方法。
背景技术：
1、一颗芯片最终做到终端产品上，一般需要经过芯片设计、晶圆制造、晶圆测试、封装、成品测试、板级封装等这些环节，而对一枚芯片进行各种测试是保证芯片最终质量的重要环节，在芯片测试中需要对芯片进行固定才能确保芯片测试的稳定性和准确性。
2、但现有的芯片测试装置在使用过程中存在以下不足：第一、在对不同尺寸的芯片进行固定时需要更换夹具，以保证在检测过程中芯片的位置不会发生偏移，从而确保检测结果的准确性，非常不便；第二、在检测过程中，灰尘等细小杂质容易吸附在芯片的表面，导致其检测结果精度受到影响；第三、在上料时，需要工作人员依次将待检测芯片放置到指定位置，增强了工作人员的劳动强度，同时也降低了检测效率；故而提出一种芯片测试装置及方法来解决上述所提出的问题。
技术实现思路
1、本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供了一种芯片测试装置及方法。
2、为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种芯片测试装置
3、优选的，测试台的上表面固定连接有支撑台，所述支撑台的上表面固定连接有测试机，所述支撑台的上表面固定连接有防护罩，所述支撑台的上方设置有定位板，所述防护罩的上表面固定连接有直线电机，所述支撑台的上表面固定连接有限位块，所述支撑台的上表面滑动连接有抵触滑块，所述抵触滑块的前后两面固定连接有侧翼推块，所述支撑台的上表面铰接有调距夹爪，所述调距夹爪的右端转动连接有尼龙滚轮，所述测试台的上方设置有用于防止空气中的杂质在芯片检测时与芯片接触影响测试精度的防干扰装置，所述测试台的上方设置有用于间歇输送芯片进行测试，防止芯片堆积的输送装置，所述防护罩的顶端开设有滑槽一，且抵触滑块上表面通过滑块与滑槽一内表面滑动连接，所述调距夹爪的左端与定位板铰接，所述调距夹爪与支撑台铰接处设置有扭簧，将芯片放置在测试台上，启动直线电机，直线电机带动抵触滑块向左滑动，并触碰到芯片，抵触滑块向左滑动时带动侧翼推块滑动，侧翼滑块的斜面推动调距夹爪扭动，并且尼龙滚轮能够减少侧翼推块与调距夹爪之间的摩擦力，当抵触滑块越靠近芯片时调距夹爪与定位板铰接的一端就越相互靠近，并带动定位板夹住芯片，当抵触滑块与芯片接触后停止，且此时芯片被定位板夹住。
4、优选的，防干扰装置包括有防护箱、箱门、挡板，所述防护箱固定连接在测试台上表面，所述箱门铰接在防护箱远离支撑台的一侧，所述挡板固定连接在支撑台上表面，所述防干扰装置还包括有t形推杆、推动条、拨动板、毛刷，所述t形推杆固定连接在抵触滑块下表面，所述推动条固定连接在t形推杆左侧面，所述拨动板固定连接在推动条上表面，所述毛刷固定连接在拨动板前后两侧，所述防护箱和支撑台前后两侧固定连接，所述挡板与防护箱靠近支撑台的一侧固定连接，所述支撑台的顶部开设有滑槽二，且t形推杆与滑槽二内表面滑动连接，所述推动条滑动贯穿于防护箱两侧，在测试芯片时，防护箱内填充的活性炭能够吸附芯片周围的固体颗粒物，避免固体可以沾染到芯片上，导致测试精度不准，将箱门打开可以随时更换活性炭，方便使用，当抵触滑块向左滑动时带动t形推杆和推动条向左滑动，推动条带动拨动板在防护箱内移动将活性炭翻面，使活性炭上的微孔更多的与空气接触，当抵触滑块向右滑动时带动t形推杆和推动条复位，从而使拨动板再次移动，进而将活性炭再次翻面，且拨动板来回移动时带动毛刷来回移动并将防护箱表面网孔中的固体可以刷掉。
5、优选的，输送装置包括有连接方筒、支撑辊、输送带，所述连接方筒固定连接在测试台上表面，所述支撑辊转动连接在侧面，所述输送带传动连接在支撑辊外表面，所述输送装置还包括有传动带、输送护框、传动滑块、抵触杆、拨动轴，所述传动带传动连接在支撑辊外表面前后两端，所述输送护框固定连接在连接方筒上表面，所述传动滑块固定连接在推动条上表面，所述抵触杆固定连接在传动滑块远离输送护框内表面的一侧，所述拨动轴铰接在远离输送护框内表面的一侧，所述连接方筒顶端开设有滑槽三，且传动滑块与滑槽三内表面滑动连接，所述传动带的表面开设有槽口，贯穿出防护箱左侧的推动条在连接方筒内侧来回移动时带动传动滑块往复移动，传动滑块往复移动时带动拨动轴往复移动，拨动轴向左移动时因为受到下方传动带的抵触所以向右偏移，当拨动轴向右移动时受到传动带的抵触再受到抵触杆的抵触，所以无法偏移只能垂直向下通过传动带上开设的槽口带动传动带向右转动。
6、一种芯片测试装置的测试方法，包括以下步骤：
7、步骤一：首先，将芯片输送至测试机下方，启动直线电机，直线电机带动抵触滑块与芯片接触；
8、步骤二：然后，抵触滑块接触到芯片后停止，抵触滑块停止后定位板刚好将芯片两侧夹住，将芯片固定住；
9、步骤三：随后，启动测试机，测试机对芯片进行扫描从而进行功能性测试和信号完整性测试；
10、步骤四：最后，将测试完成的芯片取出，通过输送带将新的待测试芯片重新输送至测试机下方，持续进行测试。
11、本发明采用上述技术方案，能够带来如下有益效果：
12、1、该芯片测试装置及方法，定位板能够根据芯片的尺寸自动调节夹距，既提升了芯片测试时的稳定性，避免芯片在测试时产生偏移导致测试不准确，且能够根据芯片大小自动调节夹距提高了装置适用性。
13、2、该芯片测试装置及方法，抵触滑块向右滑动时带动t形推杆和推动条复位，从而使拨动板再次移动，进而将活性炭再次翻面，且拨动板来回移动时带动毛刷来回移动并将防护箱表面网孔中的固体可以刷掉，防止固体颗粒堵塞，进一步提升吸附效率，防止了固体颗粒与芯片接触，提升了测试精度。
14、3、该芯片测试装置及方法，传动带再带动支撑辊和输送带向右移动输送带将芯片间歇送往测试机下方进行测试，无需人工手动将芯片放上去，省时省力，且能够按照传动带设置的间距间歇的将芯片输送到指定位置，从而使测试过程更加有序便捷，提高了芯片的检测效率。
1.一种芯片测试装置，包括测试台(1)，其特征在于：所述测试台(1)的上表面固定连接有支撑台(3)，所述支撑台(3)的上表面固定连接有测试机(2)，所述支撑台(3)的上表面固定连接有防护罩(31)，所述支撑台(3)的上方设置有定位板(32)，所述防护罩(31)的上表面固定连接有直线电机(33)，所述支撑台(3)的上表面固定连接有限位块(36)，所述支撑台(3)的上表面滑动连接有抵触滑块(34)，所述抵触滑块(34)的前后两面固定连接有侧翼推块(35)，所述支撑台(3)的上表面铰接有调距夹爪(37)，所述调距夹爪(37)的右端转动连接有尼龙滚轮(38)；
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述防护罩(31)的顶端开设有滑槽一，且抵触滑块(34)上表面通过滑块与滑槽一内表面滑动连接，所述调距夹爪(37)的左端与定位板(32)铰接，所述调距夹爪(37)与支撑台(3)铰接处设置有扭簧。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述防干扰装置(4)包括有防护箱(41)、箱门(42)、挡板(43)，所述防护箱(41)固定连接在测试台(1)上表面，所述箱门(42)铰接在防护箱(41)远离支撑台(3)的一侧，所述挡板(43)固定连接在支撑台(3)上表面。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述防干扰装置(4)还包括有t形推杆(44)、推动条(45)、拨动板(46)、毛刷(47)，所述t形推杆(44)固定连接在抵触滑块(34)下表面，所述推动条(45)固定连接在t形推杆(44)左侧面，所述拨动板(46)固定连接在推动条(45)上表面，所述毛刷(47)固定连接在拨动板(46)前后两侧。
5.根据权利要求4所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述防护箱(41)和支撑台(3)前后两侧固定连接，所述挡板(43)与防护箱(41)靠近支撑台(3)的一侧固定连接，所述支撑台(3)的顶部开设有滑槽二，且t形推杆(44)与滑槽二内表面滑动连接，所述推动条(45)滑动贯穿于防护箱(41)两侧。
6.根据权利要求5所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述输送装置(5)包括有连接方筒(51)、支撑辊(52)、输送带(53)，所述连接方筒(51)固定连接在测试台(1)上表面，所述支撑辊(52)转动连接在侧面，所述输送带(53)传动连接在支撑辊(52)外表面。
7.根据权利要求6所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述输送装置(5)还包括有传动带(54)、输送护框(55)、传动滑块(56)、抵触杆(57)、拨动轴(58)，所述传动带(54)传动连接在支撑辊(52)外表面前后两端，所述输送护框(55)固定连接在连接方筒(51)上表面，所述传动滑块(56)固定连接在推动条(45)上表面，所述抵触杆(57)固定连接在传动滑块(56)远离输送护框(55)内表面的一侧，所述拨动轴(58)铰接在远离输送护框(55)内表面的一侧。
8.根据权利要求7所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述连接方筒(51)顶端开设有滑槽三，且传动滑块(56)与滑槽三内表面滑动连接，所述传动带(54)的表面开设有槽口。
9.根据权利要求1-8任意一项所述的一种芯片测试装置的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
