本申请涉及非极性材料的无损检测，更具体地，涉及一种基于太赫兹成像的接线端子绝缘层均匀性检测方法、装置、计算设备和计算机可读存储介质。
背景技术：
1、太赫兹信号能够穿透非金属材料，达到不同的界面后形成反射回波，通过回波的变化能够判定界面的状态。电缆的结构由外护套、金属护套、缓冲层、绝缘屏蔽层等组成，但是在变电站的接线端子处，连接时需要将外护套、金属护套、缓冲层、绝缘屏蔽层剥离，只剩余电缆内部结构的金属导线和交联聚乙烯绝缘层，连接后在包裹上密封的绝缘层。
2、在连接接线端子时，操作上可能会造成划痕，或者电缆的交联聚乙烯绝缘层本就存在不平整的表面纹理或厚度不均匀，都会造成之后长期带电负载时的局部微电场局部放电，材料局部微观被击穿后形成微缺陷，形成安全隐患。
3、因此检测接线端子绝缘层均匀性具有重要意义。
技术实现思路
1、有鉴于此，有必要提供一种基于太赫兹成像的接线端子绝缘层均匀性检测方法、装置、计算设备和计算机可读存储介质，其能够对电缆等接线端子的绝缘层厚度均匀性和内部金属导线的表面形貌的纹理进行无损检测，有利于及时消除安全隐患。
2、一种基于太赫兹成像的接线端子绝缘层均匀性检测方法，包括：
3、向被测接线端子发射太赫兹波信号，并接收绝缘层回波和金属导线回波；
4、根据所述绝缘层回波和所述金属导线回波得到被测接线端子的绝缘层平均厚度值，以及金属导线的排布信息；
5、将所述绝缘层平均厚度值与标准绝缘层平均厚度值对比，得到绝缘层厚度均匀性数据；将所述金属导线的排布信息与标准排布信息进行对比，得到排布特性数据；
6、对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行聚类处理，得到所述被测接线端子的绝缘层均匀性检测结果。
7、优选的，对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行聚类处理，包括：
8、对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行预处理；
9、基于预处理后的绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据，选择特征；
10、通过聚类算法基于所述特征，进行聚类。
11、优选的，将所述绝缘层平均厚度值与标准绝缘层平均厚度值对比，得到绝缘层厚度均匀性数据，包括:
12、获取所述绝缘层回波与所述金属导线回波的时间差，以及所述绝缘层的折射率；
13、根据所述时间差和所述绝缘层的折射率，得到绝缘层的平均厚度值；
14、根据所述绝缘层的平均厚度值与所述标准绝缘层平均厚度值的偏差，以及所述绝缘层的平均厚度值，得到所述绝缘层厚度均匀性数据。
15、优选的，将所述金属导线的排布信息与标准排布信息进行对比，得到排布特性数据，包括：
16、将所有金属导线回波的相位位置对齐，并构建金属导线回波的太赫兹图像；
17、根据所述金属导线回波的太赫兹图像得到所述金属导线的排布信息；
18、将所述金属导线的排布信息与标准排布信息进行对比，得到排布特性数据。
19、优选的，获取被测试件的太赫兹波信号前，还包括：
20、向标准试件发射太赫兹波信号，并获取所述标准试件的太赫兹回波；
21、根据所述标准试件的太赫兹波回波，得到标准绝缘层平均厚度和标准排布信息。
22、优选的，向被测接线端子发射太赫兹波信号，并接收绝缘层回波和金属导线回波后，还包括：
23、对所述绝缘层回波和所述金属导线回波进行预处理；其中，所述预处理包括平滑滤波去除白噪声。
24、优选的，对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行聚类处理，得到所述被测接线端子的绝缘层均匀性检测结果，包括：
25、对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行聚类处理后的结果进行异常分析，得到分析结果；
26、根据所述分析结果，确定所述被测接线端子的绝缘层均匀性检测结果。
27、与现有技术相比，本发明的有益效果在于：通过基于太赫兹成像技术结合聚类处理的接线端子绝缘层均匀性检测，能够无损地检测接线端子的绝缘层厚度均匀性和金属导线的排布特性，能够全面、准确、可靠地评估绝缘层的均匀性和导线的排布质量，能够为产品质量控制提供可靠依据以及消除安全隐患。
1.一种基于太赫兹成像的接线端子绝缘层均匀性检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行聚类处理，包括：
3.根据权利要求1所述方法，其特征在于，将所述绝缘层平均厚度值与标准绝缘层平均厚度值对比，得到绝缘层厚度均匀性数据，包括:
4.根据权利要求1所述方法，其特征在于，将所述金属导线的排布信息与标准排布信息进行对比，得到排布特性数据，包括：
5.根据权利要求1所述方法，其特征在于，获取被测试件的太赫兹波信号前，还包括：
6.根据权利要求1所述方法，其特征在于，向被测接线端子发射太赫兹波信号，并接收绝缘层回波和金属导线回波后，还包括：
7.根据权利要求1至6任意一项所述方法，其特征在于，对所述绝缘层厚度均匀性数据和所述排布特性数据进行聚类处理，得到所述被测接线端子的绝缘层均匀性检测结果，包括：
8.一种基于太赫兹成像的接线端子绝缘层均匀性检测装置，其特征在于，包括：
9.一种计算设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有程序指令，所述程序指令当被计算机执行时使得所述计算机执行权利要求1至7任一项所述的基于太赫兹成像的接线端子绝缘层均匀性检测方法。
