本发明涉及检测装置，特别是涉及一种芯片检测装置及其控制系统。
背景技术：
1、机器视觉检测的特点是提高生产的柔性和自动化程度，在一些不适合人工作业的危险工作环境或人工视觉难以满足要求的场合，常用机器视觉来替代人工视觉，同时在大批量工业生产过程中，用人工视觉检查产品质量效率低且精度不高，用机器视觉检测方法可以大大提高生产效率和生产的自动化程度。
2、在芯片的生产和加工时，需要对芯片的外观进行检查，由于芯片数量较多且体积较小，通常采用机器视觉检测的方式对芯片外观进行检测，现有的芯片外观检测装置在上料与下料过程中，对芯片抓取放置，容易对芯片表面产生损坏，且易导致芯片移位，对检测结果产生影响，为此提出一种芯片检测装置及其控制系统。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足，本发明提供一种芯片检测装置及其控制系统，对芯片进行吸附抓取，便于对芯片进行保护，吸附上、下料机构在安装滑轨上横移，芯片未发生角度位移，上、下料位置精确可控，有利于提高装置的实用性。
2、为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种芯片检测装置，包括箱体，所述箱体内设有中央处理器、储存模块、控制器，所述中央处理器分别与所述储存模块、控制器电性连接，所述箱体左右两侧分别活动卡接有上料工位、下料工位，所述箱体内底部中部固定安装有驱动电机，所述驱动电机输出端固定安装有工作台，所述箱体内两侧固定安装有安装滑轨，所述安装滑轨上滑动连接有吸附上料机构、吸附下料机构，所述吸附上料机构输出端位于所述上料工位顶部，所述吸附下料机构输出端位于所述下料工位顶部，所述箱体内顶部固定安装有视觉模块，所述视觉模块输出端位于所述工作台顶部，所述控制器分别与所述吸附上料机构、吸附下料机构电性连接，所述视觉模块与所述中央处理器电性连接。
3、优选的，所述工作台顶部开设有放料槽，所述放料槽位于所述工作台顶部呈环形分布，所述视觉模块输出端位于所述吸附上料机构、吸附下料机构之间的放料槽顶部。
4、优选的，所述上料工位包括上料匣，所述上料匣内活动卡接有上料槽，所述上料匣顶部固定安装有第一限位机构，所述第一限位机构底部与所述上料槽顶部活动抵接，所述上料匣位于所述箱体外部一侧设有第一把手，所述上料匣内底部固定安装有第一弹性组件，所述第一弹性组件位于所述上料槽内底部，所述控制器与所述第一限位机构电性连接。
5、优选的，所述下料工位包括下料匣，所述下料匣内活动卡接有下料槽、残次品槽，所述下料匣顶部固定安装有第二限位机构，所述第二限位机构底部与所述下料槽、残次品槽顶部活动抵接，所述下料匣位于所述箱体外部一侧设有第二把手，所述下料匣内底部固定安装有第二弹性组件，所述第二弹性组件位于所述下料槽、残次品槽内底部，所述控制器与所述第二限位机构电性连接。
6、优选的，所述安装滑轨中部设有挡板，所述吸附上料机构、吸附下料机构分别与所述挡板两侧活动抵接。
7、优选的，所述箱体表面一侧固定安装有控制面板，所述控制面板与所述中央处理器电性连接。
8、优选的，所述箱体远离所述控制面板一侧表面铰接固定有检修箱门，所述检修箱门与所述箱体活动连接。
9、优选的，所述吸附上料机构输出端数量为3，所述吸附下料机构输出端为1，所述上料槽、工作台上单个的放料槽数量为3，所述下料槽数量为2，所述残次品槽数量为1。
10、优选的，所述箱体底部四角均固定安装有支撑脚。
11、本发明还提供一种芯片检测装置的控制系统，采用了上述的芯片检测装置，
12、中央处理器：用于接收视觉模块输出的图像信息，并将图像信息传输到储存模块内比对，将比对结果传输到控制器。
13、储存模块：用于储存标准的芯片图像信息，及各种芯片的图像信息数据库。
14、控制器：用于控制吸附上料机构、吸附下料机构、第一限位机构、第二限位机构的运行。
15、本发明的芯片检测装置的工作原理为：上料工位上设置第一限位机构，第一限位机构对上料槽内的芯片进行限位，第一弹性组件对芯片底部进行抵接，上料工位功能与弹夹相似，在吸附上料机构输出端与上料工位内的芯片接触时，第一限位机构移开，芯片上方是吸附上料机构的输出端进行限位，吸附上料机构移动后第一限位机构复位，继续对上料工位内的芯片进行限位，如此往复直至上料工位内芯片全部清空，吸附上料机构对芯片进行输送，将其放置在工作台上，驱动电机带动工作台转动，芯片移动到视觉模块底部，视觉模块对芯片进行拍摄，并传输到中央处理器，中央处理器经过图像处理后，控制器控制吸附下料机构进行精准下料，吸附下料机构输出端数量为1，一次下料一片，可以更好的对芯片的良品与不良品进行分类，分类更加方便精准，控制面板功能除可对箱体内的电气设备进行控制外，还可作为可视窗，观测箱体内的工作进度，方便对检测工作进行更精准的控制，检修箱门的设置，方便对箱体内部的电气设备进行检修维护，吸附上料机构、吸附下料机构均在安装滑轨上直线滑动，不会产生角度位移，使芯片的拿取更加便捷，输送位置的控制更加简单准确，对检测结果的影响更小。
16、与现有技术相比，本发明能达到的有益效果是：
17、1、通过设置在安装滑轨上的吸附上料机构，对上料工位内的芯片进行吸附上料，视觉模块与中央处理器配合，进行外观检测，再对芯片进行吸附下料，便于保护芯片表面，吸附上、下料机构在安装滑轨上滑移，未发生角度位移，上下料位置更加可控，检测结果更加精准。
18、2、将上下料工位均设置成弹夹式，芯片上料与下料弹性组件与限位机构均能对芯片进行限位夹紧，减少上下料时芯片间的碰撞，进一步地保护芯片，提高装置的实用性。
1.一种芯片检测装置，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)内设有中央处理器、储存模块、控制器，所述中央处理器分别与所述储存模块、控制器电性连接，所述箱体(1)左右两侧分别活动卡接有上料工位(4)、下料工位(5)，所述箱体(1)内底部中部固定安装有驱动电机(8)，所述驱动电机(8)输出端固定安装有工作台(7)，所述箱体(1)内两侧固定安装有安装滑轨(9)，所述安装滑轨(9)上滑动连接有吸附上料机构(91)、吸附下料机构(92)，所述吸附上料机构(91)输出端位于所述上料工位(4)顶部，所述吸附下料机构(92)输出端位于所述下料工位(5)顶部，所述箱体(1)内顶部固定安装有视觉模块(10)，所述视觉模块(10)输出端位于所述工作台(7)顶部，所述控制器分别与所述吸附上料机构(91)、吸附下料机构(92)电性连接，所述视觉模块(10)与所述中央处理器电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述工作台(7)顶部开设有放料槽，所述放料槽位于所述工作台(7)顶部呈环形分布，所述视觉模块(10)输出端位于所述吸附上料机构(91)、吸附下料机构(92)之间的放料槽顶部。
3.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述上料工位(4)包括上料匣(41)，所述上料匣(41)内活动卡接有上料槽(42)，所述上料匣(41)顶部固定安装有第一限位机构(43)，所述第一限位机构(43)底部与所述上料槽(42)顶部活动抵接，所述上料匣(41)位于所述箱体(1)外部一侧设有第一把手(44)，所述上料匣(41)内底部固定安装有第一弹性组件(45)，所述第一弹性组件(45)位于所述上料槽(42)内底部，所述控制器与所述第一限位机构(43)电性连接。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述下料工位(5)包括下料匣(51)，所述下料匣(51)内活动卡接有下料槽(52)、残次品槽(53)，所述下料匣(51)顶部固定安装有第二限位机构(54)，所述第二限位机构(54)底部与所述下料槽(52)、残次品槽(53)顶部活动抵接，所述下料匣(51)位于所述箱体(1)外部一侧设有第二把手(55)，所述下料匣(51)内底部固定安装有第二弹性组件(56)，所述第二弹性组件(56)位于所述下料槽(52)、残次品槽(53)内底部，所述控制器与所述第二限位机构(54)电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述安装滑轨(9)中部设有挡板(93)，所述吸附上料机构(91)、吸附下料机构(92)分别与所述挡板(93)两侧活动抵接。
6.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述箱体(1)表面一侧固定安装有控制面板(2)，所述控制面板(2)与所述中央处理器电性连接。
7.根据权利要求6所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述箱体(1)远离所述控制面板(2)一侧表面铰接固定有检修箱门(3)，所述检修箱门(3)与所述箱体(1)活动连接。
8.根据权利要求4所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述吸附上料机构(91)输出端数量为3，所述吸附下料机构(92)输出端为1，所述上料槽(42)、工作台(7)上单个的放料槽数量为3，所述下料槽(52)数量为2，所述残次品槽(53)数量为1。
9.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述箱体(1)底部四角均固定安装有支撑脚(6)。
10.一种芯片检测装置的控制系统，采用了如权利要求1-9中任一项的芯片检测装置，其特征在于：
