本发明涉及构造地质学分析，具体涉及一种判断走滑断裂后期活动强度方法、装置和电子设备，通过膏盐岩变形程度分析，为膏盐岩覆盖区断裂后期活动强度的判定提供依据。
背景技术：
1、断裂是油气生成、运移、聚集的重要因素，断裂活动强度研究及对比是构造研究的重要内容。判断断裂活动强度的研究方法有很多，目前较为常用的定量方法主要有生长指数法、活动速率法、古落差法和古滑距等。
2、生长指数(growth index)法是断裂活动强度研究的经典方法，该方法自1963年由thorsen c e提出以来，在世界上得到了广泛应用，被许多教科书介绍并引用。断层生长指数是上盘厚度与下盘厚度之比。断层两侧地层厚度的差异由盆地整体沉降幅度和断层两侧沉积速率的差异造成，而不同时期不同位置处的盆地沉降速率、沉积速率不同，所以其生长指数的大小并不能真实地反映断层活动性的强弱。断层生长指数在进行同一断层不同时期，或同一时期不同断层的活动强度的对比时常遇到一些难以克服的干扰因素，有时甚至会得出错误的结论。因此，该方法目前应用很少。
3、李勤英等在2000年引入了断层活动速率的概念，同时将其与生长指数进行了深入的比较，并应用该方法研究了东濮凹陷断裂的活动性，取得了较好的效果。所谓断层活动速率是指某一地层单元在一定时期内，因断裂活动形成的落差与相应沉积时间的比值。与生长指数法相比，活动速率法克服了断层上升盘地层缺失及沉积速率变化的影响，能够更加准确地反映断层的真正活动强度，同时考虑了相应地层的沉积时间，方便了不同时期断层活动强度的对比研究。然而，应用该方法研究断层活动性，必须知道地层沉积的准确时间，这是非常困难而且得到的数据是很不精确的。因此，该方法未能得到广泛的应用。
4、赵勇等在2003年提出了应用落差分析法研究生长断层活动的强度。该方法实际上是简化了活动速率法对沉积时间的依赖，直接应用落差进行断裂活动性分析。落差分析法被广泛应用于断层活动性研究中。断层落差也称铅直断层滑距，指在垂直于断层走向的剖面上，断层两盘相当层之间的铅直距离。在沉积补偿的情况下，生长断层的古落差可以表示为两盘地层的厚度差。与生长指数相比，落差分析法不受断层上升盘地层缺失的限制，不受断陷盆地整体沉降幅度的影响，容易对比断层的活动强度，地质含义明确，可操作性强等诸多优点而成为目前开展断裂活动性研究的主要方法。由于该方法使用断层活动量的铅直分量作为近似断层落差，因此受断层倾角变化影响较为严重，在断裂产状变化明显地区的应用效果受到一定的限制。
5、卢异2010年提出古断距法来来反应断裂活动强度。总体上，断层两盘的相对运动有位移和旋转，因此断层位移的方向和大小具有重要意义。断层的古滑距是指断层两盘的实际距离,即断层错动前的某一点在错动后所形成的两个对应点之间的实际距离。从滑距的定义可知，滑距是从断层活动的角度对断层属性的直观描述，其概念本身就是断层活动性的表达。而生长指数法、活动速率法及落差分析法等则是通过分析地层中保留下来的沉积建造来反推断层活动性的。因此，滑距分析法更为直接，地质含义也更为明确。
6、进一步说明的是。走滑断裂早期形成后，其上继续沉积一套盐岩或膏岩塑性层，走滑断裂后期持续活动时，由于上覆地层发育盐岩或膏岩等塑性层，应力向上传递受到阻挡，导致上覆地层雁列正断层不发育。模拟研究表明，当盐岩或膏岩等塑性层厚度大于40m时，产生应力屏蔽作用，且塑性层厚度越大，屏蔽作用越强。在此情况下，如何判断膏盐岩覆盖区，走滑断裂后期活动的相对强弱存在一定的困难。
技术实现思路
1、本技术提供一种判断走滑断裂后期活动强度方法、装置和电子设备，以解决现有技术判断走滑断裂后期活动强弱存在困难的上述技术问题。
2、根据本技术的一方面，一种实施例提供了一种判断走滑断裂后期活动强度方法，包括：
3、走滑断裂精细解释，明确平面分布特征；
4、膏盐岩变形分析，构造反映膏盐岩变形的图像；
5、afe属性提取；
6、三图叠合，其中，所述三图为断裂展布图、膏盐岩构造图或厚度图、afe属性平面图；所述断裂展布图来自所述走滑断裂精细解释，明确平面分布特征；所述膏盐岩构造图或厚度图来自所述膏盐岩变形分析；所述afe属性平面图来自afe属性提取；
7、其中，膏盐岩厚度减薄区、afe属性平面图裂缝发育区的走滑断裂后期活动相对较强。
8、一种实施例中，所述走滑断裂精细解释，明确平面分布特征包括：
9、以相干属性为基础，结合地震剖面，完成目的层位的平面断裂体系解释；
10、明确主干界面断裂展布特征。
11、一种实施例中，所述膏盐岩变形分析，构造反映膏盐岩变形的图像包括：
12、对塑性层的顶、底界面进行追踪；
13、形成顶面构造图、底面构造图和厚度图；
14、选择最能反应膏盐岩变形程度的构造图或厚度图。
15、一种实施例中，所述塑性层包括盐岩或膏盐。
16、一种实施例中，所述afe属性提取包括：
17、提取膏盐岩之上不同层位的afe属性平面图；
18、明确上覆地层裂缝发育的程度。
19、根据本技术的一方面，一种实施例提供了一种判断走滑断裂后期活动强度装置，包括：
20、处理模块，用于走滑断裂精细解释，明确平面分布特征；
21、分析模块，用于膏盐岩变形分析，构造反映膏盐岩变形的图像；
22、计算模块，用于afe属性提取；
23、和
24、叠合模块，用于三图叠合，其中，所述三图为断裂展布图、膏盐岩构造图或厚度图、afe属性平面图；所述断裂展布图来自所述走滑断裂精细解释，明确平面分布特征；所述膏盐岩构造图或厚度图来自所述膏盐岩变形分析；所述afe属性平面图来自afe属性提取；
25、其中，膏盐岩厚度减薄区、afe属性平面图裂缝发育区的走滑断裂后期活动相对较强。
26、一种实施例中，所述处理模块包括：
27、体系解释模块，用于以相干属性为基础，结合地震剖面，完成目的层位的平面断裂体系解释；
28、确定模块，用于明确主干界面断裂展布特征。
29、一种实施例中，所述分析模块包括：
30、追踪模块，用于对塑性层的顶、底界面进行追踪；
31、图像形成模块，用于形成顶面构造图、底面构造图和厚度图；
32、选择模块，用于选择最能反应膏盐岩变形程度的构造图或厚度图。
33、根据本技术的一方面，一种实施例提供了一种电子设备，包括：
34、存储器；
35、和
36、处理器；
37、其中，所述存储器用于存储一条或多条计算机指令；所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行以实现上述任意一项所述的判断走滑断裂后期活动强度方法。
38、根据本技术的一方面，一种实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机指令；其中，所述计算机指令被处理器执行时，实现上述任意一项所述的判断走滑断裂后期活动强度方法。
39、走滑断裂后期活动强度控制了裂缝储集体的发育程度和走滑断裂通源的有效性。本技术上述实施例的技术方案，通过利用膏盐岩顶、底构造图和厚度反映变形程度，结合膏盐岩之上地层afe属性反映裂缝发育的程度，解决了膏盐岩吸收向上传递的应力而难以反映后期活动强弱的问题，实现了对膏盐岩覆盖区走滑断裂后期活动强度的表征，膏盐岩厚度减薄区、afe属性平面图裂缝发育区的走滑断裂后期活动相对较强。
40、本发明的提出，为存在盐岩或膏岩等塑性层时，判断走滑断裂后期活动的强弱提供了一种具体的解决思路和方案。
1.一种判断走滑断裂后期活动强度方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种判断走滑断裂后期活动强度方法，其特征在于，所述走滑断裂精细解释，明确平面分布特征包括：
3.根据权利要求1所述的一种判断走滑断裂后期活动强度方法，其特征在于，所述膏盐岩变形分析，构造反映膏盐岩变形的图像包括：
4.根据权利要求1所述的一种判断走滑断裂后期活动强度方法，其特征在于，所述塑性层包括盐岩或膏盐。
5.根据权利要求1所述的一种判断走滑断裂后期活动强度方法，其特征在于，所述afe属性提取包括：
6.一种判断走滑断裂后期活动强度装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的一种判断走滑断裂后期活动强度装置，其特征在于，所述处理模块包括：
8.根据权利要求6或7所述的一种判断走滑断裂后期活动强度装置，其特征在于，所述分析模块包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机指令；其中，所述计算机指令被处理器执行时，实现权利要求1至5中任意一项所述的判断走滑断裂后期活动强度方法。
