本发明属于光伏，尤其是涉及一种ccd检测单晶等径过程直径的方法。
背景技术：
1、为了实现自动检测单晶在等径过程中的直径变化，减少由于单晶直径异常造成无法使用的情况，在现有技术中通常采用ccd进行单晶等径过程中直径的测量，将通过ccd获得的图像阈值和通过经验设定的等径增益值转换成单晶的直径，存在以下问题：
2、1.导流筒未降到零位导致测得的图像阈值发生偏差；
3、2.等径增益值人为校准差异较大；
4、3.热场装配不平整导致测得的图像阈值发生偏差；
5、4.ccd摄像头位置及焦距偏差导致图像阈值发生偏差；
6、导致单晶等径过程直径测量精度较低，影响单晶及成品的质量。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本发明提供一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，有效解决了单晶等径过程直径测量精度较低的问题，克服了现有技术的不足。
2、本发明采用的技术方案是：一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，包括以下步骤：
3、获取籽晶的直径d1；
4、获取所述籽晶熔接过程的图像阈值x1；
5、获取单晶等径过程的图像阈值x2；
6、根据所述籽晶的直径d1与图像阈值x1的比例关系，计算所述单晶的直径d2。
7、进一步，所述比例关系为，
8、d1/x1＝d2/x2。
9、进一步，获取所述籽晶熔接过程的图像阈值x1时，需在所述籽晶过热后进行获取。
10、进一步，所述籽晶过热的判断标准为所述籽晶的光圈直径在标准时间内缩小的距离大于标准距离。
11、进一步，所述标准时间为5～30s。
12、进一步，所述标准距离为0.1～1mm。
13、进一步，所述获取单晶等径过程的图像阈值x2步骤中，所述单晶的拍摄频率为每秒7～15帧。
14、进一步，所述图像阈值x1和x2均为像素值
15、本发明具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，提高了ccd检测单晶等径过程直径的测量精度，保证了单晶及成品的质量。
1.一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：所述比例关系为，
3.根据权利要求1或2所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：获取所述籽晶熔接过程的图像阈值x1时，需在所述籽晶过热后进行获取。
4.根据权利要求3所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：所述籽晶过热的判断标准为所述籽晶的光圈直径在标准时间内缩小的距离大于标准距离。
5.根据权利要求4所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：所述标准时间为5～30s。
6.根据权利要求5所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：所述标准距离为0.1～1mm。
7.根据权利要求1-2、4-6任一所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：所述获取单晶等径过程的图像阈值x2步骤中，所述单晶的拍摄频率为每秒7～15帧。
8.根据权利要求7所述的一种ccd检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于：所述图像阈值x1和x2均为像素值。
