信号基线处理方法、装置、电子设备和计算机存储介质与流程

    专利查询2026-05-02  3


    本申请涉及信号处理,具体涉及一种信号基线处理方法、装置、电子设备和计算机存储介质。


    背景技术:

    1、伴随着电子设备通信技术的发展,越来越多的电子设备中会设置有邻近传感器,邻近传感器会探测邻近被检测对象、例如人的头部的耳朵区域等,且邻近传感器通常为电容传感器,在目标物靠近邻近传感器时,邻近传感器的电容会发生变化。邻近传感器的电容变化可以被用来激发电子设备的响应,例如对于手机来说,可以实现用户远离时关闭手机屏幕,从而节省手机电池功率。

    2、然而,在目标物接近的探测中,邻近传感器的电容不仅会受到被检测对象的影响,还会受到环境干扰,例如温度干扰等,当环境温度逐渐上升时,邻近传感器的电容变化无法精确反映出目标物的邻近情况。


    技术实现思路

    1、有鉴于此,本申请提供一种信号基线处理方法、装置电子设备和计算机存储介质,以解决传统方案中邻近传感器受到环境干扰后探测精度下降的技术问题。

    2、本申请第一方面提供一种信号基线处理方法,包括:获取电容传感器的检测通道在当前时刻的第一电容数据、及参考通道在当前时刻的第二电容数据;根据所述第一电容数据确定所述电容传感器的检测通道在当前时刻的状态;若所述电容传感器的检测通道在当前时刻处于饱和状态,则根据所述电容传感器在上一时刻的基线值、所述第二电容数据与所述参考通道在上一时刻的第三电容数据确定电容传感器在当前时刻的基线值。

    3、可选地,所述根据上一时刻的基线值、所述第二电容数据与所述参考通道在上一时刻的第三电容数据确定所述电容传感器在当前时刻的基线值的过程还可以包括:根据如下公式计算所述电容传感器在当前时刻的基线值:

    4、z(n)=z(n-1)+b*[x(n)-x(n-1)]

    5、z(n)用于表征所述电容传感器在当前时刻的基线值,z(n-1)用于表征所述电容传感器在上一时刻的基线值,x(n)用于表征所述第二电容数据,x(n-1)用于表征所述第三电容数据,b用于表征第一补偿系数,所述第一补偿系数为设定的常量,且所述第一补偿系数为正数。

    6、可选地,所述根据所述第一电容数据确定所述检测通道的在当前时刻的状态的过程还可以包括:当所述第一电容数据小于电容阈值时,确定所述检测通道在当前时刻的状态处于非饱和状态;当所述第一电容数据大于或等于所述电容阈值时,确定所述检测通道在当前时刻的状态处于饱和状态。

    7、可选地,信号基线处理的过程还可以包括:若所述检测通道在当前时刻处于非饱和状态,则根据所述电容传感器在上一时刻的基线值、所述第一电容数据、所述第二电容数据、所述第三电容数据和所述检测通道在上一时刻的第四电容数据确定所述电容传感器在当前时刻的基线值。

    8、可选地,所述根据所述电容传感器在上一时刻的基线值、所述第一电容数据、所述第二电容数据、所述第三电容数据和所述检测通道在上一时刻的第四电容数据确定所述电容传感器在当前时刻的基线值的过程还可以包括:根据如下公式计算所述电容传感器在当前时刻的基线值:

    9、z(n)=z(n-1)+c*(y(n)-a*x(n)-(y(n-1)-a*x(n-1)))

    10、z(n)用于表征所述电容传感器在当前时刻的基线值,z(n-1)用于表征所述电容传感器在上一时刻的基线值,y(n)用于表征所述第一电容数据,x(n)用于表征所述第二电容数据,x(n-1)用于表征所述第三电容数据,y(n-1)用于表征所述第四电容数据,a用于表征第二补偿系数,c用于表征第三补偿系数,所述第二补偿系数和所述第三补偿系数为设定的常量,且所述第二补偿系数和所述第三补偿系数为正数。

    11、本申请第二方面提供一种信号基线处理装置,包括:获取模块,用于获取电容传感器的检测通道在当前时刻的第一电容数据、及参考通道在当前时刻的第二电容数据;确定模块,用于根据所述第一电容数据确定所述电容传感器的检测通道在当前时刻的状态;基线处理模块,用于若所述电容传感器的检测通道在当前时刻处于饱和状态,则根据所述电容传感器在上一时刻的基线值、所述第二电容数据与所述参考通道在上一时刻的第三电容数据确定所述电容传感器在当前时刻的基线值。

    12、本申请第三方面提供一种电子设备,包括:电容传感器的检测通道、参考通道和信号基线处理装置;所述电容传感器的检测通道的电容数据与环境因素和被检测对象相关;所述参考通道的电容数据与所述环境因素相关;所述信号基线处理装置,用于执行如实施例第一方面中任一项所述的方法。

    13、可选地,所述电容传感器的检测通道连接的电容传感器包括天线。

    14、本申请第四方面提供一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如实施例第一方面中任一所述的方法。

    15、本申请第五方面提供一种计算机程序产品,包括计算机指令,所述计算机指令指示计算设备执行如施例第一方面中任一项所述的方法对应的操作。

    16、本申请通过在电容传感器的检测通道处于饱和状态时使用参考通道的电容数据确定电容传感器的基线值,能够避免基线跟随饱和状态下的电容传感器的检测通道的异常数据,导致基线值在被检测对象远离后无法正常下降的问题,进而提高了对被检测对象的邻近情况的检测精确度。



    技术特征:

    1.一种信号基线处理方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据上一时刻的基线值、所述第二电容数据与所述参考通道在上一时刻的第三电容数据确定电容传感器在当前时刻的基线值,包括:

    3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一电容数据确定所述电容传感器的检测通道的在当前时刻的状态,包括:

    4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

    5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述电容传感器在上一时刻的基线值、所述第一电容数据、所述第二电容数据、所述第三电容数据和所述检测通道在上一时刻的第四电容数据确定所述电容传感器在当前时刻的基线值,包括:

    6.一种信号基线处理装置,其特征在于,包括:

    7.一种电子设备,其特征在于,包括:电容传感器的检测通道、参考通道和信号基线处理装置;

    8.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述电容传感器的检测通道连接的电容传感器包括天线。

    9.一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一所述的方法。

    10.一种计算机程序产品,其特征在于,包括计算机指令,所述计算机指令指示计算设备执行如权利要求1-5中任一项所述的方法对应的操作。


    技术总结
    本申请公开一种信号基线处理方法、装置、电子设备和计算机存储介质,信号基线处理方法包括:获取检测通道在当前时刻的第一电容数据、及参考通道在当前时刻的第二电容数据,根据第一电容数据确定检测通道在当前时刻的状态,若检测通道在当前时刻处于饱和状态,则根据电容传感器在上一时刻的基线值、第二电容数据与参考通道在上一时刻的第三电容数据确定电容传感器在当前时刻的基线值,本申请通过在电容传感器的检测通道处于饱和状态时使用参考通道的电容数据确定电容传感器的基线值,能够避免基线跟随饱和状态下的异常数据,导致基线值在被检测对象远离后无法正常下降的问题,进而提高了对被检测对象的邻近情况的检测精确度。

    技术研发人员:丁晋晋,张忠,刘业凡,徐周
    受保护的技术使用者:上海艾为电子技术股份有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/11/26
    转载请注明原文地址:https://tc.8miu.com/read-35257.html

    最新回复(0)