本技术涉及封装载板，具体涉及一种ic载板的成品检查台面。
背景技术：
1、在当前的半导体封装与测试行业中，带有bump的产品，如ic载板，其成品检查是确保产品质量和可靠性的关键环节。然而，传统上广泛采用的检查台面设计，尤其是针对带有bump的产品，多依赖于吸附检查台面。这种设计在功能上虽能满足基本需求，但在实际操作中却暴露出明显的局限性。具体而言，当对带有bump的ic载板进行成品检查时，由于bump面需要朝下放置在检查平台上，以确保载板能够稳固地吸附于台面，从而进行详细的检查作业。然而，这种放置方式却不可避免地导致了bump与台面之间的直接接触。如授权公告号为cn213209951u的中国专利公开一种用于ic载板外观检测的翻台装置，在检查过程中，由于需要频繁地移动或调整载板位置，以及检查设备本身的机械振动，都可能对bump造成潜在的压伤或划伤风险。这些物理损伤不仅影响了产品的外观质量，更可能对其电学性能造成不可逆转的损害，进而降低产品的整体合格率和市场竞争力。此外，传统吸附检查台面在应对不同厚度或规格的ic载板时，也显得力不从心。由于无法根据载板的实际尺寸进行灵活调整，往往需要在检查前进行繁琐的手动调整或更换台面，这不仅增加了操作人员的劳动强度，也降低了检查效率。
技术实现思路
1、本实用新型要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种ic载板的成品检查台面，能够保护ic载板避免台面触碰到bump。
2、本实用新型的技术方案为：
3、一种ic载板的成品检查台面，包括检查平台，所述检查平台两侧设有快拆式连接件，所述检查平台中间为镂空结构，检查平台中间竖向活动连接有若干支撑杆。
4、作为本申请的进一步方案，所述检查平台上下两端的边框内均设有活动槽，所述支撑杆两端连接在活动槽内。
5、作为本申请的进一步方案，所述快拆式连接件包括把手、锁紧装置，所述把手对称设于检查平台两侧，所述锁紧装置对称设于把手两侧，用于将检查平台固定至检测设备上。
6、作为本申请的进一步方案，所述检查平台表面覆盖有防静电材料层，用于防止ic载板在检查过程中因静电而受损。
7、作为本申请的进一步方案，所述镂空结构两侧设有检测照明灯，用于提供均匀的光线分布，以便于更清晰地观察和检查ic载板上的bump产品。
8、作为本申请的进一步方案，所述检查平台边缘还设有缓冲垫，用于在放置或移除ic载板时减轻冲击力，保护ic载板及其上的bump产品免受物理损伤。
9、本实用新型与现有技术相比，具有以下有益效果：
10、本实用新型通过镂空结构以及竖向活动的支撑杆设计，避免了ic载板上的bump面直接与台面接触，从而显著降低了bump因压伤或划伤导致的物理损伤风险，提高了产品的成品率和质量；快拆式连接件的设计，包括把手和锁紧装置，使得检查平台能够迅速、方便地安装到检测设备上，同时也便于拆卸和维护，提升了设备的整体操作性和可维护性。
1.一种ic载板的成品检查台面，其特征在于，包括检查平台(1)，所述检查平台(1)两侧设有快拆式连接件，所述检查平台(1)中间为镂空结构，所述镂空结构两侧设有检测照明灯(7)，检查平台(1)中间竖向活动连接有若干支撑杆(2)。
2.如权利要求1所述的一种ic载板的成品检查台面，其特征在于，所述检查平台(1)上下两端的边框内均设有活动槽(3)，所述支撑杆(2)两端连接在活动槽(3)内。
3.如权利要求1所述的一种ic载板的成品检查台面，其特征在于，所述快拆式连接件包括把手(4)、锁紧装置(5)，所述把手(4)对称设于检查平台(1)两侧，所述锁紧装置(5)对称设于把手(4)两侧。
4.如权利要求1所述的一种ic载板的成品检查台面，其特征在于，所述检查平台(1)表面覆盖有防静电材料层。
5.如权利要求1所述的一种ic载板的成品检查台面，其特征在于，所述检查平台(1)边缘设有缓冲垫(8)。
6.如权利要求1所述的一种ic载板的成品检查台面，其特征在于，所述检测照明灯(7)设有多个亮度调节档位。
