一种LED芯片的自动化测试系统的制作方法

一种led芯片的自动化测试系统
技术领域
1.本实用新型涉及led芯片测试设备技术领域，具体为一种led芯片的自动化测试系统。


背景技术：

2.led芯片是一种固态的半导体器件，其心脏是一个半导体的晶片，整个晶片被环氧树脂封装起来，也成为led发光芯片，是led灯的核心组件，其主要功能是将电能转化为电能。
3.现有的一些led芯片生产工厂在对芯片进行测试时，测试设备可以自动监测出成品和次品，但通常会采用人工方式将成品和残次品进行分拣，工作量较大，容易导致工作人员疲倦，进而可能会造成成品与残次品分离不彻底，较低出厂成品率的问题。


技术实现要素：

4.本实用新型提供了一种led芯片的自动化测试系统，具备结构简单，便于测试，测试效率高的优点，以解决测试设备可以自动监测出成品和次品，但通常会采用人工方式将成品和残次品进行分拣，工作量较大，容易导致工作人员疲倦，进而可能会造成成品与残次品分离不彻底，较低出厂成品率的问题。
5.为实现结构简单，便于测试，测试效率高的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种led芯片的自动化测试系统，包括底座，所述底座通过转动件设置有伸缩部，所述伸缩部通过检测架设置有支撑件，所述支撑件通过活动件连接有电动推杆，所述电动推杆通过支撑板连接在检测架的表面，所述支撑件的表面设置有复位弹簧，所述底座的表面连接有弧形板，所述弧形板的表面设置有上料部，所述底座的表面还连接有检测部。
6.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述伸缩部包括套管，限位杆和伸缩弹簧，所述套管连接在转动件的表面，所述套管套接在限位杆的表面，所述伸缩弹簧的一端连接在套管的表面，所述伸缩弹簧的另一端与检测架的表面连接，所述检测架连接在限位杆远离套管的一端。
7.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述套管的表面通过限位环设置有导向杆，所述导向杆连接在检测架的表面。
8.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述套管的表面连接有斜杆，所述斜杆远离套管的一端与转动件连接。
9.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测架的表面设置有限位件，所述支撑件活动连接在限位件的表面，所述复位弹簧的一端固定连接在支撑件的表面，所述复位弹簧的另一端固定连接在限位件的表面，所述支撑件的表面设置有橡胶凸起。
10.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述活动件的表面设置有限位凸起，所述活动件与支撑件活动连接，所述电动推杆的输出轴与活动件的表面连接，所述支撑板固定连接在检测架的表面，所述电动推杆通过固定座固定连接在支撑板的表面。
11.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述支撑板的表面连接有l形板，所述l形板的一侧与检测架的表面固定连接。
12.与现有技术相比，本实用新型提供了一种led芯片的自动化测试系统，具备以下有益效果：
13.1、该led芯片的自动化测试系统，通过设置活动件、支撑件、检测架以及电动推杆，当芯片合格时，电动推杆收缩，芯片逐渐从支撑件上脱漏，从测试架的内部掉落到收集槽内，活动件复位时，支撑件会在复位弹簧的复位作用下自动复位，当芯片不合格时，电动推杆伸长，将不合格的芯片脱离支撑件，从测试架的外部掉落，达到了可以自动测试的同时，也方便自动分拣的效果，解决了测试设备可以自动监测出成品和次品，但通常会采用人工方式将成品和残次品进行分拣，工作量较大，容易导致工作人员疲倦，进而可能会造成成品与残次品分离不彻底，较低出厂成品率的问题。
14.2、该led芯片的自动化测试系统，通过设置限位杆、套管、伸缩弹簧以及弧形板，转动件带动套管旋转，当测试架接触到弧形板时，受挤压向着靠近套管的方向运动，伸缩弹簧压缩，当测试架与套管之间的距离最小时，测试架位于上料部的正下方，上料部上料并挤压芯片，使芯片卡和在支撑件与橡胶凸起之间，转动件继续转动，将芯片转运到检测部，达到了上料收缩，监测伸长，可以节省空间的效果，解决了设备占地面积较大，不便实现多工位测试的问题。
附图说明
15.图1为本实用新型整体结构示意图；
16.图2为本实用新型检测架处结构示意图；
17.图3为本实用新型l形板处结构示意图。
18.图中：1、底座；2、转动件；3、伸缩部；301、套管；302、限位杆；303、伸缩弹簧；4、检测架；5、支撑件；6、活动件；7、电动推杆；8、支撑板；9、复位弹簧；10、弧形板；11、导向杆；12、斜杆；13、限位件；14、l形板；15、橡胶凸起。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
20.请参阅图1-图3，本实用新型公开了一种led芯片的自动化测试系统，包括底座1，所述底座1通过转动件2设置有伸缩部3，所述伸缩部3通过检测架4设置有支撑件5，所述支撑件5通过活动件6连接有电动推杆7，所述电动推杆7通过支撑板8连接在检测架4的表面，所述支撑件5的表面设置有复位弹簧9，所述底座1的表面连接有弧形板10，所述弧形板10的表面设置有上料部，所述底座1的表面还连接有检测部。
21.具体的，所述伸缩部3包括套管301，限位杆302和伸缩弹簧303，所述套管301连接在转动件2的表面，所述套管301套接在限位杆302的表面，所述伸缩弹簧303的一端连接在套管301的表面，所述伸缩弹簧303的另一端与检测架4的表面连接，所述检测架4连接在限
位杆302远离套管301的一端。
22.本实施方案中，当检测架4与弧形板10接触后，检测架4受挤压向着靠近套管301的方向运动，伸缩弹簧303压缩，限位杆302可以起到导向和限位的作用，伸缩部3可以在上料时处于压缩状态，测试时处于伸长状态，可以减小设备占用的空间，便于实现多工位测试芯片。
23.具体的，所述套管301的表面通过限位环设置有导向杆11，所述导向杆11连接在检测架4的表面。
24.本实施方案中，检测架4运动时，导向杆11可以起到导向和限位的作用，配合限位杆302可以使检测架4的运动更加平稳，不会发生偏移，从而方便上料和测试。
25.具体的，所述套管301的表面连接有斜杆12，所述斜杆12远离套管301的一端与转动件2连接。
26.本实施方案中，斜杆12可以对套管301起到支撑的作用，上料时，上料部会对检测架4进行挤压，斜杆12可以提高结构强度，增长套管301的使用寿命。
27.具体的，所述检测架4的表面设置有限位件13，所述支撑件5活动连接在限位件13的表面，所述复位弹簧9的一端固定连接在支撑件5的表面，所述复位弹簧9的另一端固定连接在限位件13的表面，所述支撑件5的表面设置有橡胶凸起15。
28.本实施方案中，限位件13的形状成l形，支撑件5的外壁侧设置有与限位件13相适配的凹槽，限位件13可以对支撑件5进行卡接，同时也可以在支撑件5运动时起到限位和导向的作用，使其运动更加温度，复位弹簧9可以在卸下合格芯片后，使支撑件5自动复位，方便上料。
29.具体的，所述活动件6的表面设置有限位凸起，所述活动件6与支撑件5活动连接，所述电动推杆7的输出轴与活动件6的表面连接，所述支撑板8固定连接在检测架4的表面，所述电动推杆7通过固定座固定连接在支撑板8的表面。
30.本实施方案中，活动件6的表面设置有限位凸起，支撑件5的内壁侧设置有与之相适配的滑槽，在运动的过程中，可以对活动件6起到导向和限位的作用，通过电动推杆7的伸长或是收缩可以将合格芯片或是废弃芯片进行分离。
31.具体的，所述支撑板8的表面连接有l形板14，所述l形板14的一侧与检测架4的表面固定连接。
32.本实施方案中，l形板14可以对支撑板8起到一定的支撑作用，增加结构强度。
33.本实用新型的工作原理及使用流程：在使用时，转动件2旋转，通过伸缩部3带动检测架4旋转，检测架4远离伸缩部3的一侧设置为弧面，当检测架4的弧面与弧形板10接触后，检测架4受挤压开始向着靠近套管301的方向运动，伸缩弹簧303压缩，当检测架4运动到上料部的位置处时，检测架4与套管301之间的距离最小，上料部可以将芯片自动放置到支撑件5上，并同时对芯片进行挤压，使芯片卡接在橡胶凸起15与支撑件5之间，可以对芯片进行限位和固定，转动件2继续旋转，在伸缩弹簧303的作用下，检测架4开始向着远离套管301的方向运动，当检测架4与弧形板10脱离接触后，检测架4复位，并在转动件2的作用下继续旋转，当检测架4转动到检测部的位置处时，检测部对芯片进行测试，如果芯片正常，电动推杆7收缩，拉动活动件6向着远离检测部的方向运动，活动件6挤压支撑件5，带动支撑件5也向着远离检测部的方向运动，在摩擦力的作用下，支撑件5有带动芯片一起运动的趋势，但是
支撑板8的高度设置为该与支撑件5支撑面的高度，支撑板8会对芯片限位，因此，活动件6可以带动支撑件5运动，而芯片不能发生运动，复位弹簧9拉伸，支撑件5逐渐与芯片脱离接触，当完全脱离后，芯片自动从检测架4的内部掉落到合格产品的收集槽内，如果芯片不合格，电动推杆7伸长，带动活动件6向着靠近检测部的方向运动，将不合格的芯片推出，从检测架4外部掉落到废弃槽内。
34.综上所述，该led芯片的自动化测试系统，通过设置活动件6、支撑件5、电动推杆7以及复位弹簧9，解决了测试设备可以自动监测出成品和次品，但通常会采用人工方式将成品和残次品进行分拣，工作量较大，容易导致工作人员疲倦，进而可能会造成成品与残次品分离不彻底，较低出厂成品率的问题。
35.需要说明的是，在本文中，诸如术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
36.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.一种led芯片的自动化测试系统，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)通过转动件(2)设置有伸缩部(3)，所述伸缩部(3)通过检测架(4)设置有支撑件(5)，所述支撑件(5)通过活动件(6)连接有电动推杆(7)，所述电动推杆(7)通过支撑板(8)连接在检测架(4)的表面，所述支撑件(5)的表面设置有复位弹簧(9)，所述底座(1)的表面连接有弧形板(10)，所述弧形板(10)的表面设置有上料部，所述底座(1)的表面还连接有检测部。2.根据权利要求1所述的一种led芯片的自动化测试系统，其特征在于：所述伸缩部(3)包括套管(301)，限位杆(302)和伸缩弹簧(303)，所述套管(301)连接在转动件(2)的表面，所述套管(301)套接在限位杆(302)的表面，所述伸缩弹簧(303)的一端连接在套管(301)的表面，所述伸缩弹簧(303)的另一端与检测架(4)的表面连接，所述检测架(4)连接在限位杆(302)远离套管(301)的一端。3.根据权利要求2所述的一种led芯片的自动化测试系统，其特征在于：所述套管(301)的表面通过限位环设置有导向杆(11)，所述导向杆(11)连接在检测架(4)的表面。4.根据权利要求2所述的一种led芯片的自动化测试系统，其特征在于：所述套管(301)的表面连接有斜杆(12)，所述斜杆(12)远离套管(301)的一端与转动件(2)连接。5.根据权利要求1所述的一种led芯片的自动化测试系统，其特征在于：所述检测架(4)的表面设置有限位件(13)，所述支撑件(5)活动连接在限位件(13)的表面，所述复位弹簧(9)的一端固定连接在支撑件(5)的表面，所述复位弹簧(9)的另一端固定连接在限位件(13)的表面，所述支撑件(5)的表面设置有橡胶凸起(15)。6.根据权利要求1所述的一种led芯片的自动化测试系统，其特征在于：所述活动件(6)的表面设置有限位凸起，所述活动件(6)与支撑件(5)活动连接，所述电动推杆(7)的输出轴与活动件(6)的表面连接，所述支撑板(8)固定连接在检测架(4)的表面，所述电动推杆(7)通过固定座固定连接在支撑板(8)的表面。7.根据权利要求1所述的一种led芯片的自动化测试系统，其特征在于：所述支撑板(8)的表面连接有l形板(14)，所述l形板(14)的一侧与检测架(4)的表面固定连接。

技术总结
本实用新型公开了一种LED芯片的自动化测试系统，涉及LED芯片测试设备技术领域，该LED芯片的自动化测试系统，包括底座，所述底座通过转动件设置有伸缩部，所述伸缩部通过检测架设置有支撑件，所述支撑件通过活动件连接有电动推杆，所述电动推杆通过支撑板连接在检测架的表面，所述支撑件的表面设置有复位弹簧，所述底座的表面连接有弧形板，所述弧形板的表面设置有上料部，所述底座的表面还连接有检测部。本实用新型通过设置活动件、支撑件、电动推杆以及复位弹簧，解决了虽然能自动监测出成品和次品，但通常会采用人工方式将成品和残次品进行分拣，工作量大，易导致工作人员疲倦，进而可能会造成成品与残次品分离不彻底，较低出厂成品率的问题。成品率的问题。成品率的问题。


技术研发人员：唐春玉 黄仕琴
受保护的技术使用者：深圳市名联创鑫光电科技有限公司
技术研发日：2021.11.25
技术公布日：2022/5/25